[中报]盛美上海(688082):2023年半年度报告

时间:2023年08月04日 16:49:10 中财网

原标题:盛美上海:2023年半年度报告

公司代码:688082 公司简称:盛美上海






盛美半导体设备(上海)股份有限公司
2023年半年度报告








重要提示
一、 本公司董事会、监事会及董事、监事、高级管理人员保证半年度报告内容的真实性、准确性、完整性,不存在虚假记载、误导性陈述或重大遗漏,并承担个别和连带的法律责任。

二、 重大风险提示
公司已在本报告中详细阐述公司在经营过程中可能面临的各种风险及应对措施,敬请查阅本报告第三节“管理层讨论与分析”


三、 公司全体董事出席董事会会议。



四、 本半年度报告未经审计。


五、 公司负责人HUI WANG、主管会计工作负责人LISA YI LU FENG及会计机构负责人(会计主管人员)LISA YI LU FENG声明:保证半年度报告中财务报告的真实、准确、完整。


六、 董事会决议通过的本报告期利润分配预案或公积金转增股本预案 无

七、 是否存在公司治理特殊安排等重要事项
□适用 √不适用

八、 前瞻性陈述的风险声明
√适用 □不适用
本报告所涉及的公司规划、发展战略等非既成事实的前瞻性陈述,不构成公司对投资者的实质承诺,敬请投资者注意相关风险。


九、 是否存在被控股股东及其他关联方非经营性占用资金情况


十、 是否存在违反规定决策程序对外提供担保的情况?


十一、 是否存在半数以上董事无法保证公司所披露半年度报告的真实性、准确性和完整性 否

十二、 其他
□适用 √不适用

目录
第一节 释义..................................................................................................................................... 4
第二节 公司简介和主要财务指标 ................................................................................................. 7
第三节 管理层讨论与分析 ........................................................................................................... 10
第四节 公司治理 ........................................................................................................................... 35
第五节 环境与社会责任 ............................................................................................................... 37
第六节 重要事项 ........................................................................................................................... 41
第七节 股份变动及股东情况 ....................................................................................................... 58
第八节 优先股相关情况 ............................................................................................................... 62
第九节 债券相关情况 ................................................................................................................... 62
第十节 财务报告 ........................................................................................................................... 64



备查文件目录载有公司负责人、主管会计工作负责人、会计机构负责人(会计主管 人员)签名并盖章的财务报表。
 报告期内公开披露过的所有公司文件的正本及公告的原稿。
 经现任法定代表人签字和公司盖章的本次半年报全文和摘要。



第一节 释义
在本报告书中,除非文义另有所指,下列词语具有如下含义:

常用词语释义  
公司,本公司,盛 美上海,盛美半导 体盛美半导体设备(上海)股份有限公司
盛美无锡盛美半导体设备无锡有限公司,盛美上海全资子公司
盛帷上海盛帷半导体设备(上海)有限公司,盛美上海全资子公司
香港清芯CleanChip Technologies Limited,清芯科技有限公司,盛美上海全 资子公司
盛美韩国ACM Research Korea CO., LTD.,香港清芯的全资子公司
盛美加州ACM RESEARCH (CA), INC.,香港清芯的全资子公司
御盛微半导体御盛微半导体(上海)有限公司,盛美上海全资子公司
御盛微友一御盛微友一微电子(上海)有限公司,盛美上海控股公司
盛奕科技,盛奕 半导体盛奕半导体科技(无锡)有限公司,盛美上海参股公司
合肥石溪合肥石溪产恒集成电路创业投资基金合伙企业(有限合伙),盛美上 海参股企业
青岛聚源青岛聚源芯星股权投资合伙企业(有限合伙),盛美上海参股企业
美国ACMR,ACMRACM RESEARCH, INC.,美国NASDAQ股票市场上市公司,盛美上海控 股股东
长江存储长江存储科技有限责任公司,盛美上海客户
中芯国际中芯国际集成电路制造有限公司,盛美上海客户
海力士SK Hynix Inc.,盛美上海客户
华虹集团上海华虹(集团)有限公司,盛美上海客户
长电科技江苏长电科技股份有限公司,盛美上海客户
通富微电通富微电子股份有限公司,盛美上海客户
台湾合晶科技合晶科技股份有限公司,盛美上海客户
NINEBELLNINEBELL CO.,LTD.,盛美上海供应商
NASDAQNational Association of Securities Dealers Automated Quotations,美国纳斯达克股票市场
半导体常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,按照制造技术可分为 集成电路(IC)、分立器件、光电子和传感器,可广泛应用于下游通 信、计算机、消费电子、网络技术、汽车及航空航天等产业
硅片Silicon Wafer,半导体级硅片,用于集成电路、分立器件、传感器 等半导体产品制造
IC、集成电路Integrated Circuit,指通过一系列特定的加工工艺,将晶体管、二 极管等有源器件和电阻器、电容器等无源原件按一定的电路互联并集 成在半导体晶片上,封装在一个外壳内,执行特定功能的电路或系统
晶圆在氧化/扩散、光刻、刻蚀、离子注入、薄膜生长、清洗与抛光、金 属化等特定工艺加工过程中的硅片
晶圆厂通过一系列特定的加工工艺,在硅片上加工制造半导体器件的生产厂 商
芯片集成电路的载体,也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结 果
图形晶圆表面带图案结构的晶圆
晶圆制造、芯片 制造将通过一系列特定的加工工艺,将半导体硅片加工制造成芯片的过 程,分为前道晶圆制造和后道封装测试。
存储器电子系统中的记忆设备,用来存放程序和数据
功率器件用于电力设备的电能变换和控制电路方面大功率的电子器件
NAND闪存快闪记忆体/资料储存型闪存
5G5th-Generation,即第五代移动电话行动通信标准
光刻利用光学-化学反应原理和化学、物理刻蚀方法,将电路图形传递到 单晶表面或介质层上,形成有效图形窗口或功能图形的工艺技术
刻蚀用化学或物理方法有选择地在硅表面去除不需要的材料的过程,是与 光刻相联系的图形化处理的一种主要工艺,是半导体制造工艺的关键 步骤
涂胶将光刻胶均匀涂覆到晶圆表面的过程
显影将曝光完成的晶圆进行成像的过程,通过这个过程,成像在光阻上的 图形被显现出来
CVDChemical Vapor Deposition,化学气相沉积
PECVDPlasma Enhanced Chemical Vapor Deposition(等离子体增强化学 气相沉积),是CVD的一种,在沉积室利用辉光放电使其电离后在衬 底上进行化学反应沉积的半导体薄膜材料制备和其他材料薄膜的制 备方法
LPCVDLow Pressure Chemical Vapor Deposition,低压力化学气相沉积
ALDAtomic Layer Deposition,原子层沉积,是一种可以将物质以单原 子膜形式一层一层的镀在基底表面的方法
DRAMDynamic Random Access Memory,动态随机存取存储器
SFPStress Free Polish,无应力抛光技术,该技术利用电化学反应原 理,在抛除晶圆表面金属膜的过程中,摒弃抛光过程的机械压力,根 除机械压力对金属布线的损伤
低k电介质集成电路内部由于层间电介质(Inter Layer Dielectrics)存在,会 产生寄生电容。使用低k电介质作为层间电介质,可以有效地降低互 连线之间的分布电容,从而提升芯片总体性能。
良率被测试电路经过全部测试流程后,测试结果为良品的电路数量占据全 部被测试电路数量的比例
前道、后道芯片制造分为前道和后道工艺,前道主要是光刻、刻蚀、清洗、离子 注入、化学机械平坦等;后道主要有打线、Bonder、FCB、BGA 植球、 检查、测试等
封装封装技术的定义为,在半导体开发的最后阶段,将一小块材料(如芯 片)包裹在支撑外壳中,以防止物理损坏和腐蚀,并允许芯片连接到 电路板的工艺技术
先进封装处于前沿的封装形式和技术。目前,带有倒装芯片(FC)结构的封装、 圆片级封装(WLP)、系统级封装(SiP)、2.5D封装、3D封装等均 被认为属于先进封装范畴
晶圆级封装 (WLP)晶圆级封装(Wafer level packaging)将封装尺寸减小至集成电路 芯片大小,以及它可以晶圆形式成批加工制作,使封装降低成本
UBM凸块下金属(Under Bump Metal),是焊盘和焊球之间的金属过渡 层,位于圆片钝化层的上部。UBM与圆片上的金属化层有着非常好的 粘附特性,与焊料球之间也有着良好的润湿特性,在焊球与IC金属 焊盘之间作为焊料的扩散层。UBM作为氧化阻挡层还起着保护芯片的 作用
UBM/RDL技术凸点底层金属/薄膜再分布技术,可以在去除阻挡层和种子层的同时 尽量减少底切,控制和精确监测刻蚀步骤完成的时间,从而减少底切 并保证临界特征(线或凸点)尺寸
Pillar Bump柱状凸块
FinFETFin Field-Effect Transistor,鳍式场效应晶体管,是一种新的互
  补式金氧半导体晶体管,可以改善电路控制并减少漏电流,缩短晶体 管的栅长
IPA干燥利用异丙醇(IPA)的低表面张力和易挥发的特性,取代硅片表面的 具有较高表面张力的水分,然后用氮气吹干,达到彻底干燥硅片水膜 的目的
i-line一种以紫外光(汞灯)为光源、光波长为365nm、应用技术节点为0.35- 0.25μm的光刻工艺
KrF一种以深紫外(DUV)为光源、光波长为248nm、应用技术节点为0.25- 0.13μm的光刻工艺
ArF一种以深紫外(DUV)为光源、光波长为193nm、应用技术节点为0.13 μm-7nm的光刻工艺
TSVThrough Silicon Vias,穿过硅片通道,通过硅通孔(TSV)铜互连 的立体(3D)垂直整合,目前被认为是半导体行业最先进的技术之一
CMPChemical Mechanical Polishing,化学机械抛光,使晶圆表面保持 完全平坦或进行平坦化处理
Fan-Out、扇出式基于晶圆重构技术,将芯片重新埋置到晶圆上,然后按照与标准WLP 工艺类似的步骤进行封装,得到的实际封装面积要大于芯片面积,在 面积扩展的同时也可以增加其它有源器件及无源元件形成SIP
伯努利卡盘在晶圆清洗时,利用伯努利空气动力学悬浮原理,把晶圆吸在夹盘上 的装置
SAPS清洗技术Space Alternative Phase Shift,空间交替相移技术,利用兆声波 的交替相,在微观水平上以高度均匀的方式向平板和图案化的晶圆表 面提供兆声波能量,有效地去除整个晶圆上的随机缺陷,并减少化学 药品的使用
TEBO清洗技术Timely Energized Bubble Oscillation,时序能激气穴震荡,通过 使用一系列快速的压力变化迫使气泡以特定的尺寸和形状振荡,在兆 频超声清洗过程中精确、多参数地控制气泡的空化,避免传统超音速 清洗中出现的由瞬时空化引起的图案损坏,对图案化芯片进行无损清 洗
Tahoe技术盛美上海自主研发的清洗技术,在单个湿法清洗设备中集成了槽式模 块和单片模块,兼具二者的优点;Tahoe清洗设备的清洗效果与工艺 适用性可与单片清洗设备相媲美,还可大幅减少硫酸使用量,帮助客 户降低生产成本又能更好的符合节能环保的政策
大马士革工艺衍生自古代的Damascus(大马士革)工匠之嵌刻技术,先在介电层上 刻蚀金属导线用的图膜,然后再填充金属,特点是不需要进行金属层 的刻蚀
工艺、节点、制 程即晶体管栅极宽度的尺寸,用来衡量半导体芯片制造的工艺水准
ECPElectro Chemical Plating,电化学电镀,利用电解原理在晶圆表面 上镀上一薄层其它金属或合金的过程
mm毫米,10-3米,用于描述半导体晶圆的直径的长度
μm微米,10-6米
nm纳米,10-9米
报告期、本报告 期2023年1月1日至2023年6月30日




第二节 公司简介和主要财务指标
一、 公司基本情况

公司的中文名称盛美半导体设备(上海)股份有限公司
公司的中文简称盛美上海
公司的外文名称ACM Research (Shanghai), Inc.
公司的外文名称缩写ACMSH
公司的法定代表人HUI WANG
公司注册地址中国(上海)自由贸易试验区蔡伦路1690号第4幢
公司注册地址的历史变更情况
公司办公地址中国(上海)自由贸易试验区蔡伦路1690号第4幢
公司办公地址的邮政编码201203
公司网址www.acmrcsh.com.cn
电子信箱[email protected]
报告期内变更情况查询索引


二、 联系人和联系方式

 董事会秘书(信息披露境内代表)证券事务代表
姓名罗明珠/
联系地址中国(上海)自由贸易试验区蔡伦路 1690号第4幢/
电话021-50276506/
传真021-50808860/
电子信箱[email protected]/

三、 信息披露及备置地点变更情况简介

公司选定的信息披露报纸名称中国证券报(www.cs.com.cn)、上海证券报( www.cnstock.com)、证券时报(www.stcn.com)、证 券日报(www.zqrb.cn)
登载半年度报告的网站地址www.sse.com.cn
公司半年度报告备置地点中国(上海)自由贸易试验区蔡伦路1690号第4幢公司 董事会办公室
报告期内变更情况查询索引


四、 公司股票/存托凭证简况
(一) 公司股票简况
√适用 □不适用

公司股票简况    
股票种类股票上市交易所 及板块股票简称股票代码变更前股票简称
A股上海证券交易所 科创板盛美上海688082不适用

(二) 公司存托凭证简况
□适用 √不适用
五、 其他有关资料
□适用 √不适用

六、 公司主要会计数据和财务指标
(一) 主要会计数据
单位:元 币种:人民币

主要会计数据本报告期 (1-6月)上年同期本报告期比上年 同期增减(%)
营业收入1,609,805,866.851,095,532,237.0046.94
归属于上市公司股东的净利润439,444,219.54236,588,451.6785.74
归属于上市公司股东的扣除非经常性 损益的净利润406,418,615.14257,424,223.7957.88
经营活动产生的现金流量净额-190,197,442.17-327,610,151.50不适用
 本报告期末上年度末本报告期末比上 年度末增减(%)
归属于上市公司股东的净资产5,854,446,052.525,524,033,261.005.98
总资产9,002,339,495.528,175,564,025.5310.11


(二) 主要财务指标

主要财务指标本报告期 (1-6月)上年同期本报告期比上年 同期增减(%)
基本每股收益(元/股)1.010.5583.64
稀释每股收益(元/股)1.010.5487.04
扣除非经常性损益后的基本每股收 益(元/股)0.940.5959.32
加权平均净资产收益率(%)7.644.80增加2.84个百分 点
扣除非经常性损益后的加权平均净 资产收益率(%)7.075.22增加1.85个百分 点
研发投入占营业收入的比例(%)14.9217.05减少2.13个百分 点


公司主要会计数据和财务指标的说明
√适用 □不适用
2023年 1-6月公司营业收入为 16.10亿元,同比增长 46.94%,主要原因是受益于国内半导体行业设备需求的不断增加,销售订单持续增长;新客户拓展、新市场开发等方面均取得一定成效;新产品得到客户认可,订单量稳步增长。

2023年 1-6月归属于上市公司股东的净利润同比增长 85.74%,主要原因是:1)公司主营业务收入和毛利增长,其中 2023年 1-6月半导体清洗设备以及其他半导体设备(电镀、立式炉管、无应力抛铜等设备)的营业收入均有较大增长;2)公司 2023年 1-6月投资收益较上期有较大幅度增长,其中主要是联营企业投资收益为 2,329.60万元,而上年同期为-0.07万元;3)公司 2023年 1-6月非经常性损益金额为 3,302.56万元,其中本期出售持有的中芯国际战略配售股票获取投资收益 1,887.38万元,本期持有的通富微电股票公允价值变动收益为 1,487.96万元;而上年同期非经常性损益金额为-2,083.58万元,其中主要是持有的中芯国际战略配售股票公允价值变动收益为-2,776.27万元。因此 2023年 1-6月归属于上市公司股东的净利润有较大幅度增长。

2023年 1-6月归属于上市公司股东的扣除非经常性损益的净利润同比增长 57.88%,主要原因:1)公司主营业务收入和毛利增长,其中 2023年 1-6月半导体清洗设备以及其他半导体设备(电镀、立式炉管、无应力抛铜等设备)的营业收入均有较大增长;2)公司 2023年 1-6月投资收益较上期有较大幅度增长,其中主要是联营企业投资收益为 2,329.60万元,而上年同期为-0.07万元。

2023年 1-6月经营活动产生的现金流量净额为-1.90亿元,同比好转主要是本期因销售回款较上期增加,以及因销售订单增长引起的本期预收货款增加所致。

2023年 1-6月基本每股收益 1.01元,较上年同期增长 83.64%;稀释每股收益 1.01元,较上年同期增长 87.04%;扣除非经常性损益后的基本每股收益 0.94元,较上年同期增长 59.32%。主要原因是公司主营业务收入和毛利增长所致。



七、 境内外会计准则下会计数据差异
□适用 √不适用

八、 非经常性损益项目和金额
√适用 □不适用
单位:元 币种:人民币

非经常性损益项目金额附注(如适用)
非流动资产处置损益-7,216.74 
越权审批,或无正式批准文件, 或偶发性的税收返还、减免  
计入当期损益的政府补助,但与 公司正常经营业务密切相关,符 合国家政策规定、按照一定标准 定额或定量持续享受的政府补助 除外5,793,084.37 
计入当期损益的对非金融企业收 取的资金占用费  
企业取得子公司、联营企业及合 营企业的投资成本小于取得投资 时应享有被投资单位可辨认净资 产公允价值产生的收益  
非货币性资产交换损益  
委托他人投资或管理资产的损益  
因不可抗力因素,如遭受自然灾 害而计提的各项资产减值准备  
债务重组损益  
企业重组费用,如安置职工的支 出、整合费用等  
交易价格显失公允的交易产生的 超过公允价值部分的损益  
同一控制下企业合并产生的子公 司期初至合并日的当期净损益  
与公司正常经营业务无关的或有 事项产生的损益  
除同公司正常经营业务相关的有 效套期保值业务外,持有交易性金 融资产、衍生金融资产、交易性金 融负债、衍生金融负债产生的公允 价值变动损益,以及处置交易性金 融资产、衍生金融资产、交易性金 融负债、衍生金融负债和其他债权 投资取得的投资收益33,611,379.71 
单独进行减值测试的应收款项、合 同资产减值准备转回  
对外委托贷款取得的损益  
采用公允价值模式进行后续计量 的投资性房地产公允价值变动产 生的损益  
根据税收、会计等法律、法规的 要求对当期损益进行一次性调整 对当期损益的影响  
受托经营取得的托管费收入  
除上述各项之外的其他营业外收 入和支出-919,088.10 
其他符合非经常性损益定义的损 益项目581,771.38代扣个人所得税手续费返还
减:所得税影响额6,034,326.22 
少数股东权益影响额(税 后)  
合计33,025,604.40 

对公司根据《公开发行证券的公司信息披露解释性公告第 1号——非经常性损益》定义界定的非经常性损益项目,以及把《公开发行证券的公司信息披露解释性公告第 1号——非经常性损益》中列举的非经常性损益项目界定为经常性损益的项目,应说明原因。

√适用 □不适用
单位:元 币种:人民币

项目涉及金额原因
代扣个人所得税手续费返还581,771.38具有偶发性


九、 非企业会计准则业绩指标说明
□适用 √不适用
第三节 管理层讨论与分析
一、 报告期内公司所属行业及主营业务情况说明
(一)所属行业情况
半导体产业的发展是全球经济重要的组成部分。半导体涉及了汽车电子、人工智能、服务器芯片、专用IC、材料设备、物联网芯片、汽车MCU、晶圆、封测等多个细分行业,半导体赋能的产业快速发展,对芯片产出的需求量也与日俱增。目前,半导体产业链中涉及材料、设备、制造等环节头部企业的垄断已经形成。近年来,尽管中国半导体产业因宏观环境等原因受到了些许影响,但中国仍是全球第一大半导体消费市场。2023年,我国集成电路产业发展外部环境更加严峻,国外出台的出口新政将对中国半导体装备行业带来很大的影响,但同时也带来了前所未有的机遇,将不断促进本国或本地区半导体产业的发展。
公司自设立以来,一直致力于为全球集成电路行业提供先进的设备及工艺解决方案,坚持差异化国际竞争和原始创新的发展战略,通过自主研发,建立了较为完善的知识产权体系,凭借丰富的技术和工艺积累,形成了具有国际领先或先进水平的前道半导体工艺设备,包括清洗设备(包括单片、槽式、单片槽式组合、CO2超临界清洗、边缘和背面刷洗)、半导体电镀设备、立式炉管系列设备(包括氧化、扩散、真空回火、LPCVD、ALD)、前道涂胶显影Track设备、等离子体增强化学气相沉积PECVD设备、无应力抛光设备;后道先进封装工艺设备以及硅材料衬底制造工艺设备等。

公司凭借深耕集成电路设备产业多年而积累的集成应用经验,掌握了成熟的核心关键工艺技术、生产制造能力与原始创新的研发能力,拥有成熟的供应链管理和制造体系,同时契合集成电路产业链中下游应用市场所需。公司凭借先进的技术和丰富的产品线,已发展成为中国大陆少数具有一定国际竞争力的半导体设备供应商,产品得到众多国内外主流半导体厂商的认可,并取得良好的市场口碑。
报告期内,随着公司技术水平的不断提高、产品成熟度以及市场对公司产品的认可度不断提升,公司业务开拓迅速,销售收入持续增长,报告期内保持持续盈利。
公司连续多年被评为“中国半导体设备五强企业”,入选首批上海市科学技术委员会颁发的 “上海市集成电路先进湿法工艺设备重点实验室”。报告期内获得由上海市经济和信息化委员会、国家税务总局上海市税务局、上海市财政局、上海海关共同颁发“上海市企业技术中心”;荣获进门财经颁发的“2022年最佳机构覆盖IR团队”;2023年3月获得由中共浦东新区川沙镇委员会、浦东新区川沙新镇人民政府颁发的“2022年度公益慈善奖”;由上海市工业经济联合会、上海市经济团体联合会评估进入TBB上海制造业品牌价值榜/SFEO上海企业品牌成长榜;2023年5月获得由上海市集成电路行业协会颁发的“2022年度上海市集成电路内资半导体设备业销售前五名”,获得ISO 14001环境管理体系认证和ISO 45001职业健康安全管理体系认证;2023年6月荣获“张江镇2022年度企业安全生产工作先进单位”。

(二) 公司主营业务情况
1.主要业务
公司从事对先进集成电路制造与先进晶圆级封装制造行业至关重要的单晶圆及槽式湿法清洗设备、电镀设备、无应力抛光设备、立式炉管设备和前道涂胶显影设备和等离子体增强化学气相沉积设备等的开发、制造和销售,并致力于为半导体制造商提供定制化、高性能、低消耗的工艺解决方案,有效提升客户多个步骤的生产效率、产品良率,并降低生产成本。

2.主要产品
公司经过多年持续的研发投入和技术积累,先后开发了前道半导体工艺设备,包括清洗设备(包括单片、槽式、单片槽式组合、CO2超临界清洗、边缘和背面刷洗)、半导体电镀设备、立式炉管系列设备(包括氧化、扩散、真空回火、LPCVD、ALD)、涂胶显影Track设备、等离子体增强化学气相沉积PECVD设备、无应力抛光设备;后道先进封装工艺设备以及硅材料衬底制造工艺设备等。

(1)前道半导体工艺设备
①清洗设备
A.SAPS兆声波单片清洗设备
晶圆表面的兆声波能量与晶圆和兆声波发生器之间的距离呈现周期性的变化。在传统的兆声波清洗工艺中,不同工序后应力带来的晶圆翘曲,使得晶圆上不同点到兆声波发生器的距离不同,因此晶圆上不同位置的兆声波能量也不相同,无法实现兆声波能量在晶圆表面的均匀分布。

而且由于硬件位置控制的误差,也会造成兆声波能量在晶圆表面分布的不均匀。
公司自主研发的SAPS 兆声波技术采用扇形兆声波发生器,通过精确匹配晶圆旋转速度、液膜厚度、兆声波发生器的位置、交变位移及能量等关键工艺参数,通过在工艺中控制兆声波发生器和晶圆之间的半波长范围的相对运动,使晶圆上每一点在工艺时间内接收到的兆声波能量都相同,从而很好的控制了兆声波能量在晶圆表面的均匀分布。

B.TEBO兆声波单片清洗设备
公司自主研发的TEBO清洗设备,可适用于28nm及以下的图形晶圆清洗,通过一系列快速(频率达到每秒一百万次)的压力变化,使得气泡在受控的温度下保持尺寸和形状振荡,将气泡控制在稳定震荡状态,而不会内爆,从而保持晶圆微结构不被破坏,对晶圆表面图形结构进行无损伤清洗。公司TEBO清洗设备,在器件结构从2D转换为3D的技术转移中,可应用于更为精细的具有3D结构的FinFET、DRAM和新兴3D NAND等产品,以及未来新型纳米器件和量子器件等,在提高客户产品良率方面发挥越来越重要的作用。
公司通过自主研发并具有全球知识产权保护的SAPS和TEBO兆声波清洗技术,解决了兆声波技术在集成电路单片清洗设备上应用时,兆声波能量如何在晶圆上均匀分布及如何实现图形结构无损伤的全球性难题。为实现产能最大化,公司单片清洗设备可根据客户需求配置多个工艺腔体,最高可单台配置18腔体,有效提升客户的生产效率。

C.高温单片SPM设备
随着技术节点推进到10nm及以下,工艺温度要求在145摄氏度以上,甚至超过200摄氏度的SPM工艺步骤逐渐增加。高剂量离子注入后的光刻胶去除、无灰化步骤的纯湿法去胶工艺,以及特殊的金属膜层刻蚀或剥离,都对SPM 的温度提出了更高的要求。公司的新型单片高温SPM 设备使用独特的多级梯度加热系统来预热硫酸,然后将硫酸与过氧化氢混合以达到超高温。同时,公司的腔体支持配置其他多种化学品,并配备在线化学品混酸(CIM)系统,可用于动态设置工艺中的化学品配比及温度。该腔体配置还可支持更多的化学品和灵活的辅助清洗方案,比如公司独有的专利技术SAPS和TEBO兆声波技术。该设备可支持300mm晶圆单片SPM(硫酸和过氧化氢混合酸)工艺,可广泛应用于先进逻辑、DRAM,3D-NAND等集成电路制造中的湿法清洗和刻蚀工艺,尤其针对处理高剂量离子注入后的光刻胶(PR)去除工艺,以及金属刻蚀、剥离工艺。

D.单片槽式组合清洗设备
公司自主研发的具有全球知识产权保护的Tahoe清洗设备在单个湿法清洗设备中集成了两个模块:槽式模块和单片模块。Tahoe清洗设备可被应用于光刻胶去除,刻蚀后清洗,离子注入后清洗,机械抛光后清洗等几十道关键清洗工艺中。Tahoe清洗设备的清洗效果与工艺适用性可与单片中温SPM清洗设备相媲美,与此同时,与单片清洗设备相比,还可大幅减少硫酸使用量,帮助客户降低了生产成本又能更好的符合节能减排的政策。该设备已完成客户端验证,进入量产阶段。

E.单片背面清洗设备
公司研发的单片背面清洗设备采用伯努利卡盘,应用空气动力学悬浮原理,使用机械手将晶圆送入腔体后,使晶背朝上,晶圆正面朝下,在工艺过程中,精准流量控制的高纯氮气通过晶圆与卡具之间的空隙。该设备可用于背面金属污染清洗及背面刻蚀等核心工艺。

F.边缘湿法刻蚀设备
该设备支持多种器件和工艺,包括3D NAND、DRAM和先进逻辑工艺,使用湿法刻蚀方法来去除晶圆边缘的各种电介质、金属和有机材料薄膜,以及颗粒污染物。这种方法最大限度地减少了边缘污染对后续工艺步骤的影响,提高了芯片制造的良率,同时整合背面晶圆清洗的功能,进一步优化了工艺和产品结构。

G.前道刷洗设备
采用单片腔体对晶圆正背面依工序清洗,可进行包括晶圆背面刷洗、晶圆边缘刷洗、正背面二流体清洗等清洗工序;设备占地面积小,产能高,稳定性强,多种清洗方式灵活可选。可用于集成电路制造流程中前段至后段各道刷洗工艺。

H.全自动槽式清洗设备
公司开发的全自动槽式清洗设备广泛应用于集成电路领域和先进封装领域的清洗、刻蚀、光刻胶去除等工艺,采用纯水、碱性药液、酸性药液作为清洗剂,与喷淋、热浸、溢流和鼓泡等清洗方式组合,再配以先进的常压IPA干燥技术及先进的低压IPA干燥技术,能够同时清洗50片晶圆。该设备自动化程度高,设备稳定性好,清洗效率高,金属、材料及颗粒的交叉污染低。该设备主要应用于40nm及以上技术节点的几乎所有清洗工艺步骤。

②半导体电镀设备
A.前道铜互连电镀铜设备
公司自主开发针对28-14nm及以下技术节点的IC前道铜互连镀铜技术Ultra ECP map。公司的多阳极局部电镀技术采用新型的电流控制方法,实现不同阳极之间毫秒级别的快速切换,可在超薄籽晶层(5nm)上完成无空穴填充,同时通过对不同阳极的电流调整,在无空穴填充后实现更好的沉积铜膜厚的均匀性,可满足先进工艺的镀铜需求。

B.三维堆叠电镀设备
应用于填充3d 硅通孔TSV和2.5d转接板的三维电镀设备Ultra ECP 3d。基于盛美半导体电镀设备的平台,该设备可为高深宽比(深宽比大于10:1)铜应用提供高性能、无孔洞的镀铜功能。为提高产能而做的堆叠式腔体设计,该设备还能减少消耗品的使用,降低成本,节省设备使用面积。

C.新型化合物半导体电镀设备
2022年Ultra ECP GIII 电镀设备在客户实现量产,应用于背面深孔镀金和金互联线以及Cu-Ni-Au等领域。通过差异化的技术以及灵活的模块化设计,使新型化合物半导体电镀机的竞争力进一步提升。

③立式炉管系列设备
公司研发的立式炉管设备主要包括LPCVD、氧化炉、扩散炉和炉管ALD。公司以Ultra Fn立式炉设备平台为基础,进一步推出了ALD(热原子层沉积)立式炉Ultra FnA。这款设备聚焦核心技术研发,力求满足高产能批式ALD工艺的高端要求。在能满足原子层沉积工艺的同时具备低累积膜厚气体清洗功能,保证颗粒的稳定性。

④前道涂胶显影Track设备
TM
公司的前道涂胶显影 Ultra Lith Track设备是一款应用于300毫米前道集成电路制造工艺的设备,可提供均匀的下降气流、高速稳定的机械手以及强大的软件系统,从而满足客户的特定需求。该设备功能多样,能够降低产品缺陷率,提高产能,节约总体拥有成本(COO)。涂胶显影Track设备支持主流光刻机接口,支持包括i-line、KrF和ArF系统在内的各种光刻工艺,可确保满足工艺要求的同时,让晶圆在光刻设备中曝光前后的涂胶和显影步骤得到优化。

⑤等离子体增强化学气相沉积PECVD 设备
TM
公司的等离子体增强化学气相沉积Ultra Pmax PECVD设备配置自主知识产权的腔体、气体分配装置和卡盘设计,能够提供更好的薄膜均匀性,更优化的薄膜应力和更少的颗粒特性。

⑥无应力铜互连平坦化设备
公司的无应力抛光设备将无应力抛光技术SFP(Stress-Free-Polish)与低下压力化学机械平坦化技术CMP相结合,集成创新了低 k/超低k介电质铜互连平坦化Ultra-SFP抛光集成系统,集合二者优点,利用低下压力化学机械抛光先将铜互联结构中铜膜抛至150nm厚度,再采用无应力抛光SFP智能抛光控制将直至阻挡层。再采用公司自主开发的热气相刻蚀技术,将阻挡层去除。无应力抛光设备应用于铜低k/超低k 互连结构有诸多优点:其一,依靠抛光自动停止原理,平坦化工艺后凹陷更均匀及精确可控;其二,工艺简单,采用环保的可以循环实用的电化学抛光液,没有抛光垫,研磨液等,耗材成本降低50%以上;对互联结构中金属层和介质层无划伤及机械损伤;其三,可以将工艺扩展至新型材料钴(Co)和钌(Ru)作为阻挡层的铜低k/超低k互联结构中。

⑦新型化合物半导体湿法工艺产品线
公司推出了6/8寸化合物半导体湿法工艺产品线,以支持化合物半导体领域的工艺应用,包括碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)和砷化镓(GaAs)等。

(2)后道先进封装工艺设备
①先进封装电镀设备
公司在半导体先进封装领域进行差异化开发,解决了在更大电镀液流量下实现平稳电镀的难题。采用独创的第二阳极电场控制技术更好地控制晶圆平边或缺口区域的膜厚均匀性控制,实现高电流密度条件下的电镀,凸块产品的各项指标均满足客户要求。在针对高密度封装的电镀领域可以实现2μm 超细RDL线的电镀以及包括铜、镍、锡、银和金在内的各种金属层电镀。自主开发的橡胶环密封专利技术可以实现更好的密封效果。

②涂胶设备
公司的升级版8/12 寸兼容的涂胶设备,用于晶圆级封装领域的光刻胶和Polyimide涂布、软烤及边缘去除。涂胶腔内采用了公司特有的全方位无死角自动清洗技术,可缩短设备维护时间。这款升级版涂胶设备对盛美原有的涂胶设备性能和外观都进行了优化升级,可实现热板抽屉式抽出,方便维修及更换,并且能精确复位,有效保障工序运行。

③显影设备
公司的Ultra C dv 显影设备可应用于晶圆级封装,是WLP 光刻工艺中的步骤。设备可进行曝光后烘烤、显影和坚膜等关键步骤。设备具备灵活的喷嘴扫描系统,能够实现精准的药液控制,技术先进,使用便捷。

④湿法刻蚀设备
公司的湿法刻蚀设备使用化学药液进行晶圆球下金属层(UBM)的刻蚀工艺。该设备具备先进的喷嘴扫描系统,可提供行业领先的化学温度控制、刻蚀均匀性,专注安全性,且药液回收使用可减少成本。

⑤湿法去胶设备
公司的Ultra C pr湿法去胶设备设计高效、控制精确,提升了安全性,提高了WLP产能。

该设备将湿法槽式浸洗与单片晶圆清洗相结合,能够在灵活控制清洗的同时,最大限度地提高效率,也可与公司专有的SAPS兆声波清洗设备一同使用,以清除极厚或者极难去除的光刻胶涂层。

⑥金属剥离设备
公司的湿法金属剥离(Metal Lift off)设备基于公司已有的湿法去胶设备平台,将槽式去胶浸泡模块与单片清洗腔体串联起来依序使用,在去胶的同时进行金属剥离。该设备可以在不同单片清洗腔中分别配置去胶功能和清洗功能,并通过优化腔体结构,实现易拆卸、清洗与维护,以解决金属剥离工艺中残留物累积的问题。

⑦无应力抛光先进封装平坦化设备
公司拓展开发适用于先进封装3D硅通孔及2.5D转接板中金属铜层平坦化工艺应用,为了解决工艺成本高,晶圆翘曲大的难点,利用无应力抛光的电化学抛光原理,相对比传统化学机械平坦化CMP,没有研磨液,抛光头和抛光垫,仅使用可循环使用的电化学抛光液;并且不受铜层是否经过退火的影响,去除率稳定;通过与CMP工艺整合,先采用无应力抛光将晶圆铜膜减薄至小于0.5μm - 0.2μm厚度,再退火处理,最后CMP工艺的解决方案,能够有效解决CMP工艺存在的技术和成本瓶颈。

(3)硅材料衬底制造工艺设备
①化学机械研磨后(Post-CMP)清洗设备
公司的CMP后清洗设备用于高质量硅衬底及碳化硅衬底的制造。这款设备在CMP步骤之后,使用稀释的化学药液对晶圆正背面及边缘进行刷洗及化学清洗,以控制晶圆的表面颗粒和金属污染,该设备也可以选配公司独有的兆声波清洗技术。并且这款设备有湿进干出(WIDO)和干进干出(DIDO)两种配置,可以选配2、4或6个腔体,以满足不同产能需求。

②Final Clean清洗设备
公司的Final Clean清洗设备用于高质量硅衬底及碳化硅衬底制造。这款设备在Pre Clean 步骤之后,使用稀释的化学药液同时结合公司独有的兆声波清洗技术对晶圆正背面进行化学清洗,以控制晶圆表面颗粒和金属污染。该设备适用于6寸、8寸或12寸晶圆清洗,并且可以选配4腔体、8腔体或12腔体,以满足不同产能需求。


二、 核心技术与研发进展
1. 核心技术及其先进性以及报告期内的变化情况
(1)核心技术情况
公司的主要产品包括半导体清洗设备、半导体电镀设备和先进封装湿法设备,通过多年的技术研发,公司在上述产品领域均掌握了相关核心技术,并在持续提高设备工艺性能、产能,提升客户产品良率和降低客户成本等方面不断进行创新。这些核心技术均在公司销售的产品中得以持续应用并形成公司产品的竞争力。

国家集成电路创新中心和上海集成电路研发中心有限公司于2020年6月20日对公司的核心技术进行了评估,并出具了《关于盛美半导体设备(上海)股份有限公司核心技术的评估》,盛美上海的核心技术主要应用于半导体清洗设备、无应力抛光设备和电镀铜设备。这些核心技术均为盛美上海自主研发取得,与国内外知名设备厂商相比,部分核心技术已达到国际领先或国际先进的水平,具体如下表所示:

核心技术名称技术先进性

清洗设备一.SAPS兆声波清洗技术国际先进
 二.TEBO兆声清洗技术国际领先
 三.单晶圆槽式组合Tahoe高温硫酸清洗技术国际领先
抛光设备四.无应力抛光技术国际领先
电镀铜设备五.多阳极电镀技术国际先进
先进封装湿法设备六.ECP电化学电镀技术国际领先
立式炉管设备七.Furnace立式炉管技术国际先进
(2)公司的技术先进性及具体表征
①SAPS兆声波清洗技术
针对传统兆声波清洗工艺中兆声波能量无法均匀控制的问题,公司开发了 SAPS兆声波清洗2
技术。兆声波的工艺频率范围为 1-3MHz,最大功率可达 3W/cm。SAPS兆声波清洗技术通过控制工艺过程中兆声波发生器和晶圆之间的相对运动,使得晶圆上每一点在工艺时间内接收到的兆声波能量都相同,不受晶圆翘曲的影响,并确保晶圆上每点所承受的能量在安全范围内。实验证明,SAPS兆声波清洗技术可控制晶圆表面的能量非均匀度在 2%以内,实现了兆声波能量的安全可控。

②TEBO兆声波清洗技术
随着芯片技术节点进一步缩小,以及深宽比进一步增大,图形晶圆清洗的难度变大。当芯片技术节点进一步延伸至 20nm以下,以及图形结构向多层 3D发展后,传统兆声波清洗难以控制气泡进行稳态空化效应,造成气泡破裂,从而产生高能微射流对晶圆表面图形结构造成损伤。

公司自主研发的 TEBO清洗设备,可适用于 28nm及以下工艺图形晶圆的清洗,通过一系列快速(频率达到每秒一百万次)的压力变化,使得气泡在受控的温度下保持尺寸和形状振荡,将气泡控制在稳定震荡状态,而不会内爆,从而保持晶圆微结构不被破坏,对晶圆表面图形结构进行无损伤清洗。公司 TEBO清洗设备,在器件结构从 2D转换为 3D的技术转移中,可应用于更为精细的具有 3D结构的 FinFET、DRAM和新兴 3D NAND等产品,以及未来新型纳米器件和量子器件等,在提高客户产品良率方面发挥越来越重要的作用。

③单片槽式组合 Tahoe高温硫酸清洗技术
公司研发的单片槽式组合 Tahoe高温硫酸清洗设备,此设备集成了单腔体清洗模块和槽式清洗模块,可用于 12英寸晶圆生产线的前端和后道工艺,尤其可用于高温硫酸工艺。综合了槽式和单片的优势,取长补短,在同一台设备中分步完成槽式清洗和单片清洗工序,既大量节省了硫酸使用量,也保证的良好的清洗效果,实现了绿色工艺,成本节约,环境友好的技术突破,解决了困扰业界多年的硫酸消耗量大的难题。

④无应力抛光技术
公司研发的无应力抛光技术,将阴极设计为惰性金属电极,将具有金属铜膜的晶圆连接到阳在阴极处会有氢气生成。随着电解过程的进行,晶圆表面铜膜逐渐溶解在抛光液中,从而达到了对表面铜膜的抛光作用。

⑤多阳极局部电镀技术
公司研发的多阳极局部电镀技术,可独立控制每个阳极的工作电压以及工作时区,从而控制晶圆表面的电场及电流分布,使电镀电源控制的响应时间精确控制,使在超薄仔晶层上的电镀铜膜均匀度提高,完成纳米级小孔的无孔穴填充电镀。该技术设置独立电镀液流场控制系统,单独控制向各个阳极提供电镀液,精确控制电镀腔内的流体场,独立控制晶圆切入系统,控制晶圆进入电镀液的关键参数,减少电镀时产生的缺陷。配合多阳极智能电源,实现智能入水电流保护。

公司成功开发了拥有自主知识产权的前道铜互连电镀设备Ultra ECP map及电镀工艺,整机设备已进入量产验证,并已部分实现产线量产,得到客户肯定,2022年获得大量重复批量订单,继续引领电镀设备国产化,确立了公司在本土12英寸铜互连电镀设备市场的龙头地位。

⑥ECP电化学电镀技术
公司研发的 ECP电化学电镀技术,主要应用于先进封装 Pillar Bump、RDL、HD Fan-Out和TSV中的铜、镍、锡、银、金等电镀工艺。(1)多阳极电镀技术基于多同心环阳极,并且独立控制每个阳极的工作电压以及工作时区,从而控制晶圆表面的电场及电流分布,精确到毫秒级电镀电源控制响应,使电镀铜膜均匀度提高。并且采用独立电镀液流场控制系统,单独控制向各个阳极提供电镀液,精确控制电镀腔内的流体场。(2)脉冲电镀技术,通过周期性的输出脉冲电流,能够有效克服原有直流电镀,大电流造成添加剂参与电镀反应消耗速度大于添加剂物质传输补充的速度的瓶颈,实现更高的电流密度。

依托上述多项核心技术,公司成功开发了先进封装电镀设备、三维TSV电镀设备和高速电镀设备,填补国内空白并形成批量销售。

⑦Furnace立式炉管技术
立式炉是集成电路制造过程中的关键工艺设备之一,可批式处理晶圆,按照工艺压力和应用可以分为常压炉和低压炉两类,常压炉主要完成热扩散掺杂,薄膜氧化,高温退火;低压炉主要实现不同类型的薄膜在晶圆表面的沉积工艺,主要是多晶硅,氮化硅,氧化硅等薄膜。

公司研发的立式炉管设备可用于 12英寸晶圆生产线,主要实现不同类型的薄膜在晶圆表面的沉积工艺:主要由晶圆传输模块,工艺腔体模块,气体分配模块,温度控制模块,尾气处理模块以及软件控制模块所构成,针对不同的应用和工艺需求进行设计制造,首先集中在LPCVD设备,再向氧化炉和扩散炉发展,最后逐步进入到ALD设备应用。

⑧涂胶显影Track技术
TM
公司推出前道涂胶显影Ultra Lith Track设备,采用公司具有全球专利申请保护的垂直交叉式架构,应用于300毫米前道集成电路制造工艺,可提供均匀的下降层流、高速稳定的机械手以及强大的软件系统,从而满足客户的高产出及其他特定需求。该设备支持主流光刻机接口,支持包括i-line、KrF和ArF系统在内的各种光刻工艺。

公司研发的涂胶显影Track设备已经进入客户端验证阶段。

⑨等离子体增强化学气相沉积技术
TM
公司推出Ultra Pmax PECVD设备,该设备配置了自主知识产权的腔体、气体分配装置和卡TM
盘设计,能够提供更好的薄膜均匀性、更小的薄膜应力和更少的颗粒特性。Ultra Pmax PECVD设备的推出,标志着公司在前道半导体应用中进一步扩展到全新的干法工艺领域。


国家科学技术奖项获奖情况
□适用 √不适用
国家级专精特新“小巨人”企业、制造业“单项冠军”认定情况
□适用 √不适用

2. 报告期内获得的研发成果
截至2023年6月30日,公司及控股子公司拥有已获授予专利权的主要专利413项,其中境内授权专利171项,境外授权专利242项,其中发明专利共计408项。该等在中国境内已授权的专利不存在质押、司法查封等权利受限制的情形。

报告期内获得的知识产权列表


 本期新增 累计数量 
 申请数(个)获得数(个)申请数(个)获得数(个)
发明专利5223951408
实用新型专利0033
外观设计专利0032
软件著作权0000
其他0000
合计5223957413

3. 研发投入情况表
单位:元

 本期数上年同期数变化幅度(%)
费用化研发投入212,988,485.13153,433,398.1838.81
资本化研发投入27,267,043.4833,329,518.34-18.19
研发投入合计240,255,528.61186,762,916.5228.64
研发投入总额占营业收入比例(%)14.9217.05下降 2.13个百分点
研发投入资本化的比重(%)11.3517.85下降 6.50个百分点

研发投入总额较上年发生重大变化的原因
√适用 □不适用
2023年 1-6月研发投入总额为 2.40亿元,较上年同期研发投入总额增长 28.64%。主要是聘用的研发人员人数以及支付研发人员的薪酬增加,以及现有产品改进及工艺开发、新产品及新工艺开发导致的研发物料消耗等增加所致。


研发投入资本化的比重大幅变动的原因及其合理性说明
√适用 □不适用
公司依据企业会计准则的规定,在研发项目满足特定条件后将相关研发投入予以资本化。本期研发投入资本化的比重较上年同期下降 6.50个百分点,主要是本期半导体清洗设备相关项目和立式炉管设备相关项目资本化的投入减少。

4. 在研项目情况
√适用 □不适用

序 号项目名称预计总 投资规 模本期投 入金额累计投入 金额进展或阶 段性成果拟达到目标技术水平具体应用前景
1前道清洗设备16.861.417.36完成成熟 制程工艺 验证并进 入生产线 量产阶 段;部分 产品进行 先进工艺 验证。14nm及以下工 艺量产;3D NAND工艺量 产;17/19nm 及以下DRAM 工艺。达到国际先 进水平,部 分产品达到 国际领先水 平。(1)SAPS兆声波清洗备:适用于平坦 晶圆表面和高深宽比通孔结构内清洗; (2)TEBO兆声波清洗设备:适用于图 形晶圆包括先进3D图形结构的清洗; (3)高温单片SPM设备:湿法去胶; (4)单片背面清洗设备:背面金属污 染清洗及背面刻蚀等核心工艺;(5) 边缘湿法刻蚀设备:湿法刻蚀方法来去 除晶圆边缘的各种电介质、金属和有机 材料薄膜,以及颗粒污染物;(6)前 道刷洗设备:前段至后段各道刷洗工 艺;(7)单片槽式组合清洗设备:用 于12英寸晶圆生产线的前端和后道工 艺: 1)降低运营成本:与现阶段的单 片高温硫酸清洗设备相比,可大幅减少 高温硫酸使用量; 2)减少排放,有益 于环保; 3)整合槽式和单片清洗工 艺,减少工艺步骤,提高工艺性能,缩 短产品生产周期。(8)全自动槽式清 洗设备:40nm及以上技术节点的几乎所 有清洗工艺。等等。
2半导体电镀设 备3.500.262.46完成成熟 制程工艺 验证并进 入生产线 量产阶 段;部分 产品进行 先进工艺 验证。14nm及以下工 艺量产;3D NAND工艺量 产;17/19nm 及以下DRAM 工艺;先进封 装;第三代半 导体达到国际先 进水平,部 分产品达到 国际领先水 平。(1)前道大马士革铜互连电镀:逻辑 和存储产品,3D结构的FinFET、DRAM 和3D NAND等产品,以及未来新型纳米 器件和量子器件等的金属线互连。 (2)三维堆叠电镀设备:3D TSV及 2.5D Inteposer工艺中高深宽比深孔 铜电镀工艺。(3)后道先进封装电镀 设备:先进封装Pillar Bump、RDL、HD Fan-Out和TSV中的铜、镍、锡、银、 金等电镀工艺。(4)新型化合物半导 体电镀设备:SiC, GaN 第三代半导 体以及其他化合物半导体金属层沉积; 电镀金膜,深孔镀金以及Cu,Ni,SnAg 等金属的电镀工艺。
3先进封装湿法 设备、新型化 合物半导体系 列湿法设备及 硅材料衬底制 造湿法设备0.820.050.74完成工艺 验证并进 入生产线 量产阶 段。先进封装;第 三代半导体; 硅衬底及碳化 硅衬底制造。达到国际先 进水平(1)涂胶(2)显影(3)湿法刻蚀 (4)湿法去胶(5)金属剥离(6)新 型化合物半导体系列湿法设备:包括涂 胶、显影、光阻去除、湿法蚀刻和清洗 设备,为化合物半导体领域的客户提供 一站式的服务。(7)化学机械研磨后 (Post-CMP)清洗设备:用于高质量硅 衬底及碳化硅衬底的制造,有湿进干出 (WIDO)和干进干出(DIDO)两种配 置。
4立式炉管设备2.500.180.94工艺验 证;部分 进入生产 线量产。28nm及以下工 艺量产目标达到国 际同行业企 业同等水平LPCVD、氧化炉、扩散炉、炉管ALD。
5TRACK涂胶显 影系统研制和 开发2.000.400.64完成 Track ArF 设备的研 发和制 造,进入 客户端验 证阶段28nm及以下工 艺量产目标达到国 际同行业企 业同等水平可提供均匀的下降气流、高速稳定的机 械手处理以及强大的软件系统,从而满 足客户特定需求。该设备功能多样,能 够降低产品缺陷率,提高产能,节约总 体拥有成本(COO)。
6PECVD设备和 工艺研发1.500.090.30完成研 发,进入量产目标达到国 际同行业企 业同等水平配置了自主知识产权的腔体、气体分配 装置和卡盘设计,能够提供更好的薄膜
     生产线验 证。  均匀性,更小的薄膜应力和更少的颗粒 特性。
7SFP 无应力铜 抛光技术0.400.010.33应用 1: 前道铜互 连平坦 化:应用 2:先进封 装金属层 平坦化自主研发正在进行工 艺验证创新技术路线等待验证;目标达到国际 同行业企业同 等水平
合 计/27.582.4012.77////


5. 研发人员情况
单位:万元 币种:人民币

基本情况  
 本期数上年同期数
公司研发人员的数量(人)645460
研发人员数量占公司总人数的比例(%)46.7745.63
研发人员薪酬合计11,130.137,873.97
研发人员平均薪酬17.2618.42


教育程度  
学历构成数量(人)比例(%)
博士研究生71.09
硕士研究生28844.65
本科29545.74
专科385.89
高中及以下172.64
合计645100.00
年龄结构  
年龄区间数量(人)比例(%)
30岁以下(不含30岁)34753.80
30-40岁(含30岁,不含40岁)23937.05
40-50岁(含40岁,不含50岁)436.67
50-60岁(含50岁,不含60岁)121.86
60岁及以上40.62
合计645100.00


6. 其他说明
□适用 √不适用

三、 报告期内核心竞争力分析
(一) 核心竞争力分析
√适用 □不适用
公司主要从事半导体专用设备的研发、生产和销售,公司兆声波单片清洗设备、单片槽式组合清洗设备及铜互连电镀工艺设备与国内及国际同行业企业的差别及核心竞争力体现的具体情况如下:

项目盛美上海中国同行国际巨头
  业企业 
兆声波单片清洗设备   
技术特点通过控制兆声波发生器和晶圆之间的半波长相对 运动,实现晶圆表面兆声波能量的均匀分布,解 决了传统兆声清洗中由于晶圆翘曲引起的兆声波 清洗不均一的难题;通过精确控制兆声波的输出 方式,使气泡在受控的温度下保持一定尺寸和形 状的振荡,将气泡振荡控制在稳定空化状态而不 会产生内爆或塌陷,解决了传统兆声波清洗过程 中由于气泡爆裂而引起的图形损伤问题。主要为二 流体清洗 技术主要采用化 学液体清洗 配合氮气雾 化水物理清 洗
技术节点及所 覆盖下游行业SAPS技术目前已应用于逻辑28nm技术节点及 DRAM 19nm技术节点,并可拓展至逻辑芯片 14nm、DRAM 17/16nm技术节点、32/64/128层3D NAND、高深宽比的功率器件及TSV深孔清洗应 用,在DRAM上有70多步应用,而在逻辑电路 FinFET结构清洗中有近20步应用;TEBO技术主 要针对45nm及以下图形晶圆的无损伤清洗,目 前已应用于逻辑芯片28nm技术节点,已进行16- 19nm DRAM工艺图形晶圆的清洗工艺评估,并可 拓展至14nm逻辑芯片及nm级3D FinFET结构、 高深宽比DRAM产品及多层堆叠3D NAND等产品 中,在DRAM上有70多步应用,而在逻辑电路 FinFET结构清洗中有10多步应用。相比公 司,其清 洗设备技 术节点较 落后、应 用领域较 窄相比公司, 其已销售的 清洗设备应 用于5nm及 以上生产 线、应用领 域更广
晶圆尺寸12英寸为主,也可用于8英寸功率器件的深沟槽 清洗无明显差 异无明显差异
市场占有率中国市场较高,国际市场较低中国市场 较低中国市场较 高,国际市 场垄断
单片槽式组合清洗设备   
技术特点相比当前主流单片设备,可大幅减少硫酸使用 量;保持湿润及一定水膜厚度传送硅片至单片清 洗模块;在单片清洗模块中进行晶圆最终清洗, 清洗能力优于传统槽式清洗设备,可和单片清洗 设备相媲美。--
技术节点及所 覆盖下游行业应用包括前段干法蚀刻后聚合物及残胶去除,抛 光后研磨液残留物去除,离子注入后光刻胶残留 物去除,通孔前有机残留物去除等工艺,目前已 完成逻辑芯片逻辑40nm及28nm技术节点产线验 证,并可拓展至14nm逻辑芯片、20nm DRAM及以 上技术节点及64层及以上3D NAND,可用于20 步及以上的清洗高温硫酸及高温磷酸的清洗步 骤。无此产品无此产品
晶圆尺寸12英寸为主无此产品无此产品
市场占有率中国市场较低无此产品无此产品
铜互连电镀工艺设备   
技术特点利用多阳极局部电镀技术,采用精确可控电源分 别接通各个阳极,实现局部电镀,适用于超薄种-采用虚拟阴 极电镀技
 子层覆盖小孔及沟槽结构的无空穴电镀填充;独 立电镀液流场控制系统,单独控制向各个阳极提 供电镀液,精确控制电镀腔内的流体场;电镀夹 具密封技术,通过全封闭式密封圈对接触电极的 保护,提高工艺性能和延长接触电极使用寿命, 降低工艺耗材成本;工艺腔体模块化设计,提升 设备有效运行时间。 术,克服晶 圆边缘效 应,提高晶 圆内电镀均 匀性;配合 智能入水功 能,降低入 水造成的电 镀沉积缺 陷。
技术节点及所 覆盖下游行业双大马士革铜互连结构铜电化学沉积工艺:55nm 至14nm及以上技术节点;先进封装凸块、再布 线、硅通孔、扇出工艺的电化学镀铜、镍、锡、 银、金等。无此产品双大马士革 铜互连结构 铜电化学沉 积工艺: 55nm至7nm 及以上技术 节点;支持 5nm及以下技 术节点在其 他材料上电 镀沉积铜。
晶圆尺寸12英寸为主,也可用于8英寸铜工艺的应用无此产品无明显差异
市场占有率中国市场低无此产品市场垄断
如上表所述,公司通过差异化的创新和竞争,成功研发出全球首创的SAPS/TEBO兆声波清洗技术和单片槽式组合清洗技术。目前,公司的半导体清洗设备主要应用于12英寸的晶圆制造领域的清洗工艺,在半导体清洗设备的适用尺寸方面与国际巨头公司的类似产品不存在竞争差距。(未完)
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