[中报]拓荆科技(688072):2023年半年度报告

时间:2023年08月28日 22:53:14 中财网

原标题:拓荆科技:2023年半年度报告

公司代码:688072 公司简称:拓荆科技 拓荆科技股份有限公司 2023年半年度报告




重要提示
一、 本公司董事会、监事会及全体董事、监事、高级管理人员保证半年度报告内容的真实性、准确性、完整性,不存在虚假记载、误导性陈述或重大遗漏,并承担个别和连带的法律责任。

二、 重大风险提示
公司已在本报告中详细阐述了公司在经营过程中可能面临的风险及应对措施,敬请查阅“第三节 管理层讨论与分析”之“五、风险因素”部分内容。

三、 公司全体董事出席董事会会议。


四、 天健会计师事务所(特殊普通合伙)为本公司出具了标准无保留意见的审计报告。


五、 公司负责人刘静、主管会计工作负责人杨小强及会计机构负责人(会计主管人员)杨小强声明:保证半年度报告中财务报告的真实、准确、完整。


六、 董事会决议通过的本报告期利润分配预案或公积金转增股本预案 公司于2023年8月28日召开第一届董事会第二十七次会议及第一届监事会第十六次会议,审议通过了《关于公司2023年半年度资本公积转增股本方案的议案》,公司拟以实施权益分派股权登记日的总股本为基数,以资本公积向全体股东每10股转增4.8股。以公司截至2023年6月30日的总股本126,478,797股为基数测算,合计转增60,709,823股。转增后公司总股本将增加至187,188,620股(转增后公司总股本数以中国证券登记结算有限责任公司上海分公司最终登记结果为准)。公司2023年半年度不派发现金红利,不送红股。

独立董事对上述议案发表了同意的独立意见,本次资本公积转增股本方案尚需提交公司2023年第三次临时股东大会审议。

七、 是否存在公司治理特殊安排等重要事项
□适用 √不适用
八、 前瞻性陈述的风险声明
√适用 □不适用
本报告所涉及的公司未来计划、发展战略等前瞻性陈述,不构成公司对投资者的实质承诺,请投资者注意投资风险。


九、 是否存在被控股股东及其他关联方非经营性占用资金情况


十、 是否存在违反规定决策程序对外提供担保的情况?


十一、 是否存在半数以上董事无法保证公司所披露半年度报告的真实性、准确性和完整性 否

十二、 其他
□适用 √不适用
















目录
第一节 释义..................................................................................................................................... 4
第二节 公司简介和主要财务指标 ................................................................................................. 7
第三节 管理层讨论与分析 ........................................................................................................... 11
第四节 公司治理 ........................................................................................................................... 49
第五节 环境与社会责任 ............................................................................................................... 52
第六节 重要事项 ........................................................................................................................... 54
第七节 股份变动及股东情况 ....................................................................................................... 88
第八节 优先股相关情况 ............................................................................................................... 96
第九节 债券相关情况 ................................................................................................................... 96
第十节 财务报告 ........................................................................................................................... 97



备查文件目录载有公司负责人、主管会计工作负责人、会计机构负责人(会计主管人员 签名并盖章的财务报表
 载有会计师事务所盖章、注册会计师签名并盖章的审计报告原件
 报告期内公开披露过的所有公司文件的正本及公告的原稿




第一节 释义
在本报告书中,除非文义另有所指,下列词语具有如下含义:

常用词语释义  
报告期、报告期内2023年1月1日至2023年6月30日
本报告期末、报告期末2023年6月30日
公司、本公司、拓荆科技拓荆科技股份有限公司
股东大会拓荆科技股份有限公司股东大会
董事会拓荆科技股份有限公司董事会
监事会拓荆科技股份有限公司监事会
中国证监会、证监会中国证券监督管理委员会
元、万元、亿元人民币元、人民币万元、人民币亿元
公司法《中华人民共和国公司法》
证券法《中华人民共和国证券法》
上市规则《上海证券交易所科创板股票上市规则》
公司章程《拓荆科技股份有限公司章程》
拓荆创益拓荆创益(沈阳)半导体设备有限公司,系公司全资子公司
拓荆上海拓荆科技(上海)有限公司,系公司全资子公司
拓荆北京拓荆科技(北京)有限公司,系公司全资子公司
岩泉科技上海岩泉科技有限公司,系公司全资子公司
拓荆键科拓荆键科(海宁)半导体设备有限公司,系公司控股子公司
拓荆美国Piotech (USA) Inc.,系公司全资子公司
国家集成电路基金国家集成电路产业投资基金股份有限公司
国投上海国投(上海)科技成果转化创业投资基金企业(有限合伙)
中微公司中微半导体设备(上海)股份有限公司
嘉兴君励嘉兴君励投资合伙企业(有限合伙)
润扬嘉禾青岛润扬嘉禾投资合伙企业(有限合伙)
中科仪中国科学院沈阳科学仪器股份有限公司
沈阳创投沈阳信息产业创业投资有限公司
苏州聚源苏州聚源东方投资基金中心(有限合伙)
华舆国华华舆国华(青岛)股权投资合伙企业(有限合伙),原名中车 国华(青岛)股权投资合伙企业(有限合伙)
宿迁浑璞宁波浑璞浑金创业投资合伙企业(有限合伙),原名宿迁浑璞 浑金二号投资中心(有限合伙)
盐城燕舞盐城经济技术开发区燕舞半导体产业基金(有限合伙)
沈阳风投沈阳科技风险投资有限公司
共青城盛夏共青城盛夏股权投资管理合伙企业(有限合伙)
芯鑫和共青城芯鑫和投资合伙企业(有限合伙)
芯鑫全共青城芯鑫全投资合伙企业(有限合伙)
芯鑫龙共青城芯鑫龙投资合伙企业(有限合伙)
芯鑫成共青城芯鑫成投资合伙企业(有限合伙)
芯鑫旺共青城芯鑫旺投资合伙企业(有限合伙)
芯鑫盛共青城芯鑫盛投资合伙企业(有限合伙)
芯鑫阳共青城芯鑫阳投资合伙企业(有限合伙)
沈阳盛腾沈阳盛腾投资管理中心(有限合伙)
沈阳盛旺沈阳盛旺投资管理中心(有限合伙)
沈阳盛全沈阳盛全投资管理中心(有限合伙)


沈阳盛龙沈阳盛龙投资管理中心(有限合伙)
姜谦及其一致行动人姜谦、吕光泉、刘忆军、凌复华、吴飚、周仁、张先智、张孝 勇等8名直接持有公司股份的自然人,以及芯鑫和、芯鑫全、 芯鑫龙、芯鑫成、芯鑫旺、芯鑫盛、芯鑫阳、沈阳盛腾、沈阳 盛旺、沈阳盛全、沈阳盛龙11个公司员工持股平台
芯密科技上海芯密科技有限公司
无锡金源无锡金源半导体科技有限公司
富创精密沈阳富创精密设备股份有限公司
SEMISemiconductor Equipment and Materials International, 国际半导体产业协会
薄膜沉积半导体制造中任何在硅片衬底上沉积一层膜的工艺。这层膜可 以是导体、绝缘物质或者半导体材料。沉积膜可以是二氧化硅、 氮化硅、多晶硅以及金属。薄膜沉积设备在半导体的前段工序 FEOL(制作晶体管等部件)和后段布线工序 BEOL(将在 FEOL 制造的各部件与金属材料连接布线以形成电路)均有多处应用
晶圆在氧化/扩散、光刻、刻蚀、离子注入、薄膜生长、清洗与抛光、 金属化等特定工艺加工过程中的硅片
晶圆制造、芯片制造通过一系列特定的加工工艺,将半导体硅片加工制造成芯片的 过程,一般分为前道晶圆制造和后道封装测试
晶圆厂通过一系列特定的加工工艺,在硅片上加工制造半导体器件的 生产厂商
工艺制程、关键尺寸泛指在集成电路生产工艺可达到的最小栅极宽度,尺寸越小, 表明工艺水平越高,意味着在同样面积的晶圆上,可以制造出 更多的芯片,或者同样晶体管规模的芯片会占用更小的空间
机台半导体行业对生产设备的统称
Demo机台验证机台。公司销售活动中,部分客户要求预先验证公司生产 的机台,待工艺验证通过后转为正式销售。Demo机台通常是新 工艺、新机型的首台设备
Demo订单针对Demo机台签订的验证订单
CMOSComplementary Metal Oxide Semiconductor(互补金属氧化 物半导体),由N-MOS和P-MOS器件构成的一类芯片,其多晶 硅栅极结构有助于降低器件的阈值电压,从而在低电压下运 行,是制造大规模集成电路芯片使用的一种器件结构
FinFETFin Field-Effect Transistor,鳍式场效应晶体管,是一种 新的互补式金氧半导体晶体管,可以改善电路控制并减少漏电 流,缩短晶体管的栅长
封装在半导体制造的最后阶段,将一小块材料(如芯片)包裹在支 撑外壳中,以防止物理损坏和腐蚀,并允许芯片连接到电路板 的工艺
先进封装处于前沿的封装形式和技术。目前,带有倒装芯片(FC)结构 封装、晶圆级封装(WLP)、系统级封装(SiP)、硅通孔技术 (TSV)、2.5D封装、3D封装等均被认为属于先进封装范畴
CVDChemical Vapor Deposition,化学气相沉积,是指化学气体 或蒸汽在基底表面反应合成涂层或纳米材料的方法,是半导体 工业中应用最为广泛的用来沉积多种材料的技术,包括大范围 的绝缘材料,大多数金属材料和金属合金材料
PECVDPlasma Enhanced Chemical Vapor Deposition,等离子体增 强化学气相沉积


UV Cure紫外固化,紫外固化是辐射固化的一种,是利用紫外线UV产生 辐射聚合、辐射交联等作用,可以有效改善薄膜的物理性能和 化学性能
ALDAtomic Layer Deposition,原子层沉积
PE-ALDPlasma Enhanced Atomic Layer Deposition,等离子体增强 原子层沉积
Thermal-ALDThermal Atomic Layer Deposition,热处理原子层沉积
SACVDSub-atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition,次 常压化学气相沉积
HDPCVDHigh Density Plasma Chemical Vapor Deposition,高密度 等离子体化学气相沉积
Bonding键合,主要指将两片表面清洁、原子级平整的同质或异质半导 体材料经表面清洗和活化处理,在一定条件下直接结合,通过 范德华力、分子力甚至原子力使两片半导体材料成为一体的技 术
Hybrid Bonding混合键合,指两种金属层的热压键合与熔融键合混合进行的键 合方法。该工艺过程中会同时产生一种电力(金属键合)和机械 力熔融键合
Fusion Bonding熔融键合,是两个平衬底自然连接的键合技术。其特点是抛光 片在清洗后进行亲水性加工,相互接触并在高温下退火,等离 子体预处理使得衬底能够在室温下接合
PVDPhysical Vapor Deposition,物理气相沉积
EFEMEquipment Front-End Module,一种晶圆传输系统,可用于制 造设备与晶圆产线的晶圆传输模块
介质电介质,亦称绝缘体,是一种不导电的物质
通用介质薄膜在集成电路制造过程中使用的SiO、SiN、SiON等介质薄膜 2
SiO 2硅与氧的化合物二氧化硅,可以作为一种电介质
SiN氮化硅,可以用作芯片制造中的阻挡层、钝化层
TEOSTetraethyl Orthosilicate,正硅酸乙酯,可作为SiO2薄膜的 反应源
SiONSilicon Oxynitride,即氮氧化硅,主要用于光刻过程中的消 光作用,提高曝光效果
SiOCN-FREE DARC(Nitrogen-free Dielectric Anti-reflective Coating),主要用于光刻过程中的消光作用,提高曝光效果, 避免光刻胶中毒
FSGFluorinated Silicate Glass,即掺杂氟的氧化硅,做为层间 介质层,可以降低介质层的介电常数,减少寄生电容
PSGPhospho-silicate Glass,即掺杂磷的二氧化硅,可用于金属 布线层间的绝缘层、回流介质层和表面钝化保护层
BPSGBoro-phospho-silicate Glass,即掺杂了硼和磷的二氧化硅
SA TEOS采用SACVD沉积的TEOS薄膜材料
SAF极高深宽比氧化硅薄膜工艺
AlO 2 3氧化铝,主要用于芯片制造过程中的表面钝化层、阻挡层和硬 掩膜
先进介质薄膜在集成电路制造过程中沉积的LokⅠ、LokⅡ、ADCⅠ、ACHM、 α-Si等介质薄膜材料
LokⅠ掺碳氧化硅薄膜,是低介电常数薄膜,主要应用于集成电路芯 片后段互连层间介导层,通过低介电常数,降低电路的漏电电


  流,降低导线之间的电容效应,提高芯片性能
LokⅡ超低介电常数薄膜,为LokⅠ的下一代新型介质薄膜,通过相 对于LokⅠ更低的超低介电常数,降低电路的漏电电流,降低 导线之间的电容效应,提高芯片性能
ACHMAmorphous Cabon Hard Mask,非晶碳硬掩膜,该薄膜能够提 供良好的刻蚀选择性
ADCⅠNitrogen Doped Carbide,先进掺氮碳化硅薄膜,主要应用于 扩散阻挡层以及刻蚀阻挡层,由于较低的介电常数,可以降低 导线间的电容效率,提升了芯片整体的传输性能
HTNHigh Tensile Nitride,即高应力氮化硅,主要用于先进制程 中的前道应力记忆层,通过应力记忆减小短沟道效应,增强载 流子迁移率,提高器件速度
α-SiAmorphous Silicon,非晶硅,主要应用在硬掩膜以实现小尺寸 高深宽比的图形传递
Thick TEOS微米级TEOS薄膜
PF-300T四边形传片平台,最多搭载3个反应腔,每个反应腔内最多有 2个沉积站,每次可以同时最多处理6片晶圆
NF-300H四边形传片平台,最多搭载3个反应腔,每个反应腔内有6个 沉积站,每次可以同时最多处理18片晶圆
TS-300六边形传片平台,最多搭载5个反应腔,每个反应腔内有2个 沉积站,每次可以同时最多处理10片晶圆
TS-300S六边形传片平台,即TS-300型号平台的缩小版,最多搭载5个 反应腔,每个反应腔内有1个沉积站,每次可以同时最多处理 5片晶圆
PCTPatent Cooperation Treaty,即专利合作条约

注:本报告中若出现总计数尾数与所列数值总和尾数不符的情况,均为四舍五入所致。


第二节 公司简介和主要财务指标
一、 公司基本情况

公司的中文名称拓荆科技股份有限公司
公司的中文简称拓荆科技
公司的外文名称Piotech Inc.
公司的外文名称缩写Piotech
公司的法定代表人刘静
公司注册地址辽宁省沈阳市浑南区水家900号
公司注册地址的历史变更情况
公司办公地址辽宁省沈阳市浑南区水家900号
公司办公地址的邮政编码110171
公司网址www.piotech.cn
电子信箱[email protected]
报告期内变更情况查询索引


二、 联系人和联系方式

 董事会秘书(信息披露境内代表)证券事务代表
姓名赵曦刘锡婷
联系地址辽宁省沈阳市浑南区水家900号辽宁省沈阳市浑南区水家900号
电话024-24188000-8089024-24188000-8089
传真024-24188000-8080024-24188000-8080
电子信箱[email protected][email protected]

三、 信息披露及备置地点变更情况简介

公司选定的信息披露报纸名称中国证券报(www.cs.com.cn)、上海证券报(www.cnstock.com )、证券时报(www.stcn.com)、证券日报(www.zqrb.cn)、 经济参考报(www.jjckb.cn)
登载半年度报告的网站地址www.sse.com.cn
公司半年度报告备置地点中国辽宁省沈阳市浑南区水家900号公司董事会办公室
报告期内变更情况查询索引

四、 公司股票/存托凭证简况
(一) 公司股票简况
√适用 □不适用

公司股票简况    
股票种类股票上市交易所及板块股票简称股票代码变更前股票简称
A股上海证券交易所科创板拓荆科技688072不适用

(二) 公司存托凭证简况
□适用 √不适用

五、 其他有关资料
□适用 √不适用

六、 公司主要会计数据和财务指标
(一) 主要会计数据
单位:元 币种:人民币

主要会计数据本报告期 (1-6月)上年同期 本报告期 比上年同 期增减 (%)
  调整后调整前 
营业收入1,003,709,264.02523,216,870.90523,216,870.9091.83
归属于上市公司股 东的净利润124,565,953.33108,112,792.49108,122,692.1215.22
归属于上市公司股 东的扣除非经常性 损益的净利润65,182,519.1349,140,377.1449,150,276.7732.65
经营活动产生的现 金流量净额-742,829,155.50261,341,641.50261,341,641.50-384.24


 本报告期末上年度末 本报告期 末比上年 度末增减 (%)
  调整后调整前 
归属于上市公司股 东的净资产3,890,965,331.113,711,485,492.513,711,530,962.284.84
总资产8,000,893,572.277,313,735,941.187,313,286,512.919.40
注:公司自2023年1月1日起执行财政部颁布的《企业会计准则解释第16号》“关于单项交易产生的资产和负债相关的递延所得税不适用初始确认豁免的会计处理”规定,对在首次执行该规定的财务报表列报最早期间的期初至2023年1月1日之间发生的适用该规定的单项交易进行调整。对在首次执行该规定的财务报表列报最早期间的期初因适用该规定的单项交易而确认的租赁负债和使用权资产,以及确认的弃置义务相关预计负债和对应的相关资产产生应纳税暂时性差异和可抵扣暂时性差异的,按照该规定和《企业会计准则第18号所得税》的规定,将累积影响数调整财务报表列报最早期间的期初留存收益及其他相关财务报表项目。


(二) 主要财务指标

主要财务指标本报告期 (1-6月)上年同期 本报告期比 上年同期增 减(%)
  调整后调整前 
基本每股收益(元/股)0.981.031.03-4.85
稀释每股收益(元/股)0.981.031.03-4.85
扣除非经常性损益后的基本每股收 益(元/股)0.520.470.4710.64
加权平均净资产收益率(%)3.265.535.53减少2.27个 百分点
扣除非经常性损益后的加权平均净 资产收益率(%)1.712.512.51减少0.80个 百分点
研发投入占营业收入的比例(%)20.9322.4622.46减少1.53个 百分点

公司主要会计数据和财务指标的说明
√适用 □不适用
1、 营业收入较上年同期增长91.83%,主要原因为:受益于国内晶圆厂持续扩产带来的需求增加,公司在手订单充足,产品线不断完善,新产品在客户端验证通过,持续获得更多客户的认可。公司新产品及新工艺经下游用户陆续验证导入,销售收入放量增长。报告期内,PECVD设备实现销售收入9.08亿元,较上年同期增长94.35%;HDPCVD设备、应用于晶圆级三维集成领域的混合键合设备顺利通过客户端产业化验证,实现了首台的产业化应用,ALD设备、SACVD设备持续获得客户验收,均实现销售收入。

2、 归属于上市公司股东的净利润较上年同期增长15.22%、归属于上市公司股东的扣除非经常性损益的净利润较上年同期增长32.65%,主要原因为营业收入增长带来的利润增加。其低于营业收入增长率,主要原因为本期确认股份支付费用1.26亿元,剔除股份支付费用影响后,归属于
上市公司股东的净利润同比增长 129.15%、归属于上市公司股东的扣除非经常性损益的净利润同比增长283.68%。

3、 经营活动产生的现金流量净额较上年同期降低384.24%,主要原因为:业务增长采购备货、发出商品增加,购买商品、接受劳务支付的现金增加。

4、 基本每股收益较上年同期降低4.85%,主要原因为加权平均股数增加。

5、 加权平均净资产收益率较上年同期降低2.27个百分点、扣除非经常性损益后的加权平均净资产收益率较上年同期降低 0.80 个百分点,主要系公司2022年 4 月完成首次公开发行股票并在科创板上市收到募集资金,使得2023年上半年加权平均净资产较上年同期大幅度增加。


七、 境内外会计准则下会计数据差异
□适用 √不适用

八、 非经常性损益项目和金额
√适用 □不适用
单位:元 币种:人民币

非经常性损益项目金额附注(如适用)
非流动资产处置损益-25,088.10 
计入当期损益的政府补助,但与 公司正常经营业务密切相关,符 合国家政策规定、按照一定标准 定额或定量持续享受的政府补助 除外59,220,448.19详见“第十节 财务报告”之 “七、合并财务报表项目注 释”之“84、政府补助”
除同公司正常经营业务相关的有 效套期保值业务外,持有交易性金 融资产、衍生金融资产、交易性金 融负债、衍生金融负债产生的公允 价值变动损益,以及处置交易性金 融资产、衍生金融资产、交易性金 融负债、衍生金融负债和其他债权 投资取得的投资收益4,424,710.34 
除上述各项之外的其他营业外收 入和支出17,364.50 
其他符合非经常性损益定义的损 益项目-2,507,800.85股份支付影响-2,920,370.00 元,代扣个人所得税手续费返 还412,569.15元。
减:所得税影响额  
少数股东权益影响额(税 后)1,746,199.88 
合计59,383,434.20 

对公司根据《公开发行证券的公司信息披露解释性公告第1号——非经常性损益》定义界定的非经常性损益项目,以及把《公开发行证券的公司信息披露解释性公告第1号——非经常性损益》
中列举的非经常性损益项目界定为经常性损益的项目,应说明原因。

□适用 √不适用

九、 非企业会计准则业绩指标说明
√适用 □不适用
单位:万元 币种:人民币

项目名称本报告期 (1-6月)上年同期本报告期比上年同 期增减(%)
剔除股份支付费用影响后,归属于上市公司 股东的净利润25,084.5110,946.63129.15
剔除股份支付费用影响后,归属于上市公司 股东的扣除非经常性损益后的净利润18,854.134,914.04283.68
注:上述股份支付费用指报告期内产生的全部股份支付费用,包括但不限于第二类限制性股票、股票增值权等产生的股份支付费用。


第三节 管理层讨论与分析
一、 报告期内公司所属行业及主营业务情况说明
(一) 公司所属行业情况
1. 半导体设备行业情况
集成电路行业是支撑经济发展、社会进步、国防安全的重要力量,而高端半导体设备是驱动这一产业发展的基石。在数字经济成为经济发展新动力的趋势下,半导体芯片技术持续迭代发展,并逐步向精密化、微小化发展,这对制造工艺技术不断提出挑战,因此,作为支撑半导体芯片制造工艺发展的高端半导体设备的重要地位日益凸显,并拥有巨大的市场空间。

由于半导体行业技术迭代、下游应用创新驱动、终端应用的供需关系等因素叠加宏观经济波动,半导体行业的发展呈现周期性波动的趋势。从近几年的行业发展趋势来看,2020年以来,受到全球消费电子、汽车电子等下游供应短缺刺激,全球半导体市场需求爆发,行业景气度上升。

2022年,受到宏观经济形势和下游需求转换的影响,半导体行业景气度出现了转折,全球半导体制造设备销售额较上年同期实现小幅增长,达到1074亿美元,根据SEMI于2023年7月发布的数据显示,预计2023年全球半导体制造设备的销售额将减少至874亿美元,但经过2023年的半导体库存调整及高性能计算、汽车领域对半导体芯片需求增强的推动,预计2024年全球半导体制造设备的销售额将再次恢复增长,达到1000亿美元。

根据SEMI统计,2022年中国大陆半导体设备销售额为283亿美元,连续第三年成为全球最大半导体设备市场。在当前全球半导体行业销售放缓的情况下,预计2023年中国大陆半导体设备销售额将降至225亿美元,而2024年将恢复增长,预期增长至233亿美元。


尽管半导体行业呈现短期的景气度波动,但随着数字化、自动化、智能化需求的浪潮迭起, 以人工智能、云计算、智能家居、物联网、智能驾驶等为代表的新兴产业的创新发展,将成为半 导体行业需求增长的驱动力。同时,伴随着我国对半导体产业不断的政策扶持、加大投入力度, 加速了国内半导体设备产业的发展和布局,国内设备厂商迎来了巨大的成长机遇。 2. 公司所在的薄膜沉积设备行业情况 (1)薄膜沉积设备市场规模 在半导体设备中,应用于集成电路领域的设备通常可分为前道工艺设备(晶圆制造)和后道 工艺设备(封装测试)两大类,其中,晶圆制造设备的市场规模约占半导体设备市场规模的88%。 在晶圆制造设备中,薄膜沉积设备、光刻设备、刻蚀设备共同构成芯片制造三大核心设备,决定 了芯片制造工艺的先进程度。而薄膜沉积设备所沉积的薄膜是芯片结构内的功能材料层,在芯片 制造过程中应用广泛,因此,产生了巨大的薄膜沉积设备市场,其市场规模约占晶圆制造设备市 场规模的22%。2022年全球薄膜沉积设备市场规模达229亿美元,结合中国大陆半导体制造设备 销售额占全球半导体制造设备的销售额约为26%的比例测算,2022年中国大陆薄膜沉积设备市场 规模约为60亿美元,具有广阔的市场空间。 半导体设备及晶圆制造设备市场占比 数据来源:SEMI,同行业公司定期报告 (2)公司所聚焦的薄膜沉积设备细分领域市场情况
薄膜沉积设备主要包括CVD(化学气相沉积)设备和PVD(物理气相沉积)设备。公司主要聚焦在 CVD 设备细分领域内的 PECVD(等离子体增强化学气相沉积)、ALD(原子层沉积)、SACVD(次常压化学气相沉积)及HDPCVD(高密度等离子体化学气相沉积)等薄膜设备。

虽然PECVD、ALD、SACVD及HDPCVD设备均属于CVD细分领域产品,但不同的设备技术原理不同,所沉积的薄膜种类和性能不同,适用于芯片内不同的应用工序,在逻辑、存储等芯片制造过程中应用较为广泛,主要应用如图示:

在逻辑芯片中的应用图示 在3D NAND存储芯片中的应用图示 在DRAM存储芯片中的应用图示

在2021年全球各类薄膜沉积设备市场份额中,PECVD是薄膜设备中占比最高的设备类型,占 整体薄膜沉积设备市场的33%,ALD设备占比约为 11%,SACVD和HDPCVD占比约小于6%。 薄膜沉积设备占比情况 数据来源:SEMI
(3)薄膜沉积设备主要技术门槛
薄膜沉积设备作为集成电路晶圆制造的核心设备,其技术的发展支撑了集成电路制造工艺的发展。在薄膜沉积设备研制过程中,其反应腔设计、腔体内关键件设计、气路设计、温度控制及射频控制需要在理论知识深刻理解的基础上,结合整机设计和薄膜工艺的配合与集成,专业综合性强,技术密集且壁垒较高。

由于薄膜是芯片结构的功能材料层,在芯片完成制造、封测等工序后一般会留存在芯片中,薄膜的技术参数直接影响芯片性能,因此,对薄膜材料性能的要求极其严格。生产中不仅需要在成膜后检测薄膜厚度、均匀性、光学系数、机械应力及颗粒度等性能指标,还需要在完成晶圆生产流程及芯片封装后,对最终芯片产品进行可靠性和生命周期测试,以衡量薄膜沉积设备是否最
终满足技术标准。因此,薄膜沉积设备所需要的验证时间较长。由此可见,薄膜设备从研制到产 业化应用过程均具有极高的技术难度。 此外,集成电路制造不同技术路线及不同工序所需要的薄膜材料种类不同,薄膜沉积设备需 要针对不同材料本身的物理、化学性质,进行工艺开发,以实现不同材料的沉积功能。随着芯片 内部立体结构日趋复杂,所需要的薄膜层数越来越多,对绝缘介质薄膜、导电金属薄膜的材料种 类和性能参数不断提出新的要求,因此,技术门槛也在日益提升。 (4)薄膜沉积设备发展趋势 ①薄膜设备市场需求稳步增长 纵观半导体行业的发展历史,虽然行业呈现明显的周期性波动,但整体增长趋势并未发生变 化。在人工智能、大数据、智能驾驶、新能源等新兴领域的快速发展拉动下,晶圆厂将持续进行 资本开支,扩充产能,这将带动半导体设备的市场需求量的增长。薄膜沉积设备作为集成电路晶 圆制造的核心设备,具有较大的市场需求和增长空间。 根据SEMI预测信息,在2022年至2026年期间,下游芯片制造厂商将持续扩充产能,以满足 需求增长,2022年全球半导体制造厂商300mm晶圆厂产能每月约为700万片,预计2026年将增 加至每月960万片的历史新高。中国大陆也将持续推动300mm前端晶圆厂产能增长,将全球份额 从2022年的22%增加到2026年的25%,达到每月240万片晶圆。晶圆厂的产能扩建将引领半导体 设备需求的持续增长。 ②芯片制造工艺进步及结构复杂化提高薄膜设备需求 在90nm CMOS芯片工艺中,大约需要40道薄膜沉积工序。在FinFET工艺产线,大约需要超 过100道薄膜沉积工序,涉及的薄膜材料由6种增加到近20种,对于薄膜颗粒的要求也由微米级 提高到纳米级,进而拉动晶圆厂对薄膜沉积设备需求量的增加。 不同工艺节点薄膜沉积工序对比 在FLASH存储芯片领域,随着主流制造工艺已由2D NAND发展为3D NAND结构,结构的复杂化导致对于薄膜沉积设备的需求量逐步增加。而随着3D NAND FLASH芯片的堆叠层数不断增高,
从32/64层逐步向更多层及更先进工艺发展,对于薄膜沉积设备的需求提升的趋势亦将延续。 2D NAND与3D NAND结构简图 资料来源:SEMI,广发证券
在芯片工艺技术持续进步的趋势下,当难以通过光刻直接形成先进工艺的情况下,可以结合薄膜沉积设备(主要为ALD设备)与刻蚀设备相配合,采用自对准多重成像技术,实现更小尺寸的工艺,这将进一步促进ALD设备及相关设备的重要性及需求量的提升。

③先进制程对薄膜沉积设备提出更高要求
在晶圆制造过程中,薄膜起到产生导电层或绝缘层、阻挡污染物和杂质渗透、提高吸光率、临时阻挡刻蚀等重要作用。随着芯片制造工艺不断走向精密化,对薄膜工艺性能提出了更高的技术要求,包括薄膜厚度、均匀性、光学系数、机械应力及颗粒度等性能指标,市场对于高性能薄膜设备的依赖逐渐增加,这也将拉动半导体高端薄膜设备的需求。

3. 公司所在的三维集成领域设备行业情况
(1)三维集成领域设备行业
随着“后摩尔时代”的来临,芯片制程持续缩小并接近物理极限,不能再只依赖缩短工艺极限实现最优的芯片性能和复杂的芯片结构,而是转向通过新的芯片设计架构和芯片堆叠的方式来实现,因此,产生了新的设备需求,即应用于三维集成领域的半导体设备。

应用于三维集成领域的设备是三维集成芯片、Chiplet等芯片先进架构设计的技术基础。以混合键合设备为代表的三维集成领域专用设备尚处于产品导入期,业界目前已经在存储器、图像传感器和逻辑芯片领域初步实现产业化。随着半导体芯片技术的快速发展,三维集成领域将进入成长期,混合键合设备作为晶圆级三维集成应用中最前沿的核心设备之一,其细分市场届时也将迎来快速增长。


(2)公司所聚焦的混合键合设备情况 混合键合设备作为可以提供键合面最小为 1μm 间距的金属导线连接点以实现芯片或晶圆的 堆叠,使芯片间的通信速度提升至业界先进水平,并能提高整体芯片性能。公司面向新的技术趋 势和市场需求,积极进军高端半导体设备的前沿技术领域,研制了应用于晶圆级三维集成领域的 混合键合(Hybrid Bonding)设备产品系列,同时,该设备还能兼容熔融键合(Fusion Bonding)。 键合设备主要应用原理如图示: 晶圆键合设备应用示意图 (3)混合键合设备主要技术门槛
键合设备提供的关键指标是键合面的质量,包括键合精度、键合强度以及界面空隙,其中键合精度和对准精度影响芯片性能,键合强度和界面空隙影响芯片整体良率。键合设备的研制,对于高精密对准系统、微纳精密机械控制、图像处理和分析、套刻量测等技术需要极其深刻的理解和产业化实践经验,技术壁垒较高。同时,随着键合工艺的发展,对键合设备的对准精度、键合精度等性能指标不断提出更高的要求。
(4)混合键合设备发展趋势
随着半导体工艺技术的发展,芯片架构由2D、2.5D逐步向3D创新发展,支撑芯片架构发展的键合技术不断更新迭代,而混合键合技术具备实现更高带宽、更高功率、更高通信速度等优势特点,成为当前业界优选的解决方案。随着“后摩尔时代”的来临,以三维集成为代表的先进芯片架构成为半导体芯片技术发展的重要方向和路径,将直接拉动混合键合设备的市场需求量,因此,键合设备具有较大的潜在市场需求和未来增长空间。

(二) 主营业务情况
1、主要业务情况
公司主要从事高端半导体专用设备的研发、生产、销售与技术服务。自公司成立以来,始终坚持自主研发,目前已形成PECVD、ALD、SACVD、HDPCVD等薄膜设备产品系列,广泛应用于国内
集成电路逻辑芯片、存储芯片等制造产线。此外,公司推出了应用于晶圆级三维集成领域的混合键合设备产品系列。
2、主要产品情况
报告期内,公司持续完善PECVD、ALD、SACVD及HDPCVD等薄膜系列产品性能,拓展薄膜工艺的应用领域,保持产品核心竞争力,进一步提升量产薄膜设备系列产品的市场应用规模和覆盖面,同时,积极推进混合键合设备产品的产业化验证。

公司PECVD、ALD、SACVD、HDPCVD及混合键合系列产品具体情况如下: (1)PECVD系列产品
① PECVD产品
PECVD 设备是芯片制造的核心设备之一,也是公司的核心产品,其主要功能是将硅片控制到预定温度后,使用射频电磁波作为能量源在硅片上方形成低温等离子体,通入适当的化学气体,在等离子体的激活下,经一系列化学反应在硅片表面形成固态薄膜。相比传统的CVD设备,PECVD设备在相对较低的反应温度下形成高致密度、高性能薄膜,不破坏已有薄膜和已形成的底层电路,实现更快的薄膜沉积速度,是芯片制造薄膜沉积工艺中运用最广泛的设备种类。

公司自成立就开始研制PECVD设备,在PECVD设备技术领域具有十余年的研发和产业化经验,并形成了覆盖全系列PECVD薄膜材料的设备,主要包括PECVD产品和UV Cure产品。

① PECVD产品
公司PECVD系列产品具体情况如下:

产品型号产品图片产品应用情况
PF-300T 在集成电路逻辑芯片、存储芯片制造及先进 封装等领域已实现产业化应用,可以沉积 SiO2、SiN、TEOS、SiON、SiOC、FSG、BPSG、 PSG 等通用介质薄膜材料,以及 LoKⅠ、 LoKⅡ、ACHM、ADCⅠ、HTN、a-Si等先进介


PF-300T eX 质薄膜材料,可实现8英寸与12英寸PECVD 设备兼容,具有高产能,低生产成本优势。
NF-300H 在集成电路存储芯片制造领域已实现产业 化应用,适用于沉积时间需求较长的薄膜工 艺,如Thick TEOS介质材料薄膜。
② UV Cure产品
UV Cure设备主要用于薄膜紫外线固化处理,该工序通过对薄膜进行后处理,有效改善薄膜性能,提升薄膜应力、硬度等关键性能指标。公司UV Cure产品具体情况如下:
产品型号产品图片应用领域
PF-300T Upsilon 在集成电路芯片制造领域已实现产业化应用。该 设备可以与PECVD成套使用,为PECVD HTN、Lok II等薄膜沉积进行紫外线固化处理。
(2)ALD系列产品
ALD 设备是一种可以将反应材料以单原子膜形式通过循环反应逐层沉积在硅片表面,形成对复杂形貌的基底表面全覆盖成膜的专用设备。由于ALD设备可以实现高深宽比、极窄沟槽开口的优异台阶覆盖率及精确薄膜厚度控制,在结构复杂、薄膜厚度要求精准的先进逻辑芯片、存储芯片制造中,ALD 是必不可少的核心设备之一。

公司ALD产品系列包括PE-ALD(等离子体增强原子层沉积)产品和Thermal-ALD(热处理原子层沉积)产品。

① PE-ALD产品

PE-ALD是利用等离子体增强反应活性,提高反应速率,具有相对较快的薄膜沉积速度、较低的沉积温度等特点,适用于沉积硅基介质薄膜材料。公司PE-ALD产品具体情况如下:
产品型号产品图片产品应用情况
PF-300T Astra 在集成电路逻辑芯片、存储制造及先进封装 领域已实现产业化应用,可以沉积高温、低 温、高质量的SiO2、SiN等介质薄膜材料。
NF-300H Astra 主要应用于集成电路存储芯片制造领域,已 实现产业化应用,可以沉积高温、低温、高 质量的SiO、SiN等介质薄膜材料。 2
② Thermal-ALD产品
Thermal-ALD是利用热能使反应物分子吸附在基底表面,再进行化学反应,生成薄膜,具有相对较高的反应温度、优越的台阶覆盖率、高薄膜质量等特点,适用于金属、金属氧化物、金属氮化物等薄膜沉积。公司Thermal-ALD产品具体情况如下:

产品型号产品图片产品应用情况
PF-300T Altair 主要应用于集成电路逻辑芯片、存储芯片 制造领域,正在进行产业化验证,可以沉 积Al2O3等金属化合物薄膜材料。
TS-300 Altair 主要应用于集成电路逻辑芯片、存储芯片 制造领域,正在进行产业化验证,可以沉 积Al2O3等金属化合物薄膜材料。
(3)SACVD系列产品

SACVD 设备主要应用于深宽比小于7:1的沟槽填充工艺,是集成电路制造的重要设备之一。

在集成电路结构中,沟槽孔洞的深宽比越来越大,SACVD 反应腔环境具有特有的高温(400℃-550℃)、高压(30-600Torr)环境,具有快速优越的填孔能力,同时,SACVD沉积过程没有等离子体,可以减少对器件的损伤。公司SACVD产品具体情况如下:

产品型号产品图片产品应用情况
PF-300T SA 在集成电路逻辑芯片、存储芯片制造领域已实 现产业化应用,可以沉积SA TEOS等介质薄膜 材料,可实现8英寸与12英寸SACVD设备兼 容。
PF-300T SAF 在集成电路逻辑芯片、存储芯片制造领域已实 现产业化应用,可以沉积BPSG、SAF等介质薄 膜材料,可实现8英寸与12英寸SACVD设备 兼容。

(4)HDPCVD系列产品
HDPCVD 设备主要应用于深宽比小于 5:1 的沟槽填充工艺,是集成电路制造的重要设备之一。

HDPCVD设备可以同时进行薄膜沉积和溅射,所沉积的薄膜致密度更高,杂质含量更低。公司HDPCVD产品具体情况如下:

产品型号产品图片产品应用情况
PF-300T Hesper 主要应用于集成电路逻辑芯片、存储芯片制 造领域,已实现产业化应用,可以沉积SiO2、 FSG、PSG等介质薄膜材料。


TS-300S Hesper 主要应用于集成电路逻辑芯片、存储芯片制 造领域,正在进行产业化验证,可以沉积 SiO、FSG、PSG等介质薄膜材料。 2
(5)混合键合系列产品
混合键合设备是晶圆级三维集成应用中最前沿的核心设备之一,可以在常温下通过永久键合工艺技术实现芯片或晶圆的堆叠,提升芯片间的通信速度及整体芯片性能,相比于传统工艺还有有效缩短芯片开发周期、有效保证键合面气密性等特点。

公司混合键合系列产品包括晶圆对晶圆键合(Wafer to Wafer Bonding)产品和芯片对晶圆键合表面预处理(Die to Wafer Bonding Preparation and Activation)产品。

① 晶圆对晶圆键合产品
晶圆对晶圆键合产品可以在常温下实现复杂的 12 英寸晶圆对晶圆多材料表面的键合工艺,公司晶圆对晶圆键合产品具体情况如下:

产品型号产品图片产品应用情况
Dione 300 主要应用于晶圆级三维集成芯片制造领域, 已实现产业化应用,可实现12寸晶圆对晶圆 的混合键合和熔融键合。
② 芯片对晶圆键合表面预处理产品
芯片对晶圆的键合工艺分为预处理和键合两道工序,芯片对晶圆键合表面预处理产品可以实现芯片对晶圆键合前表面预处理工序,公司开发的芯片对晶圆键合表面预处理产品情况如下:
产品型号产品图片产品应用情况
Pollux 主要应用于晶圆级三维集成芯片制造领域, 正在进行产业化验证,主要应用于晶圆及切 割后芯片的表面活化及清洗。

报告期内,公司主营业务未发生重大变化。

(三)主要经营模式
(1)盈利模式
公司主要从事高端半导体专用设备的研发、生产、销售及技术服务。公司通过向下游客户销售半导体专用设备并提供备品备件和技术服务来实现收入和利润。报告期内,公司主营业务收入来源于半导体设备的销售,其他业务收入主要来源于设备有关的备品备件销售。

(2)研发模式
公司主要采用自主研发的模式。公司建成了一支国际化、专业化的半导体设备研发技术团队。

公司的研发技术团队结构合理,分工明确,专业知识储备深厚,产线验证经验丰富,是公司自主研发能力的基石。公司根据客户需求、半导体专用设备技术动态和国家专项目标为导向,研发设计新产品、新工艺,制造研发机台,调试性能参数,在通过公司测试之后,送至客户实际生产环境中进行产业化验证,通过验证后产品正式定型。此外,公司会根据客户不同的工艺应用需求,持续丰富、完善量产产品功能。

(3)采购模式
公司采购主要分为标准件采购和非标件采购。对于标准件采购,公司面向市场供应商进行直接采购非标件主要为公司研发生产中,根据特定技术需求,自行设计的零部件。对于非标件采购,公司主要通过向供应商提供设计图纸、明确参数要求,由供应商自行采购原材料进行加工并完成定制;针对特定零部件,公司存在提供图纸及参数,并向供应商提供原材料,委托供应商完成定制化加工的情形。

(4)生产模式
公司的产品主要根据客户的差异化需求和采购意向,进行定制化设计及生产制造。公司主要采用库存式生产和订单式生产相结合的生产模式。库存式生产,指公司尚未获取正式订单便开始生产,包括根据Demo订单或较明确的客户采购意向启动的生产活动,适用于公司的Demo机台和部分销售机台。订单式生产,指公司与客户签署正式订单后进行生产,适用于公司大部分的销售机台。

(5)销售和服务模式
报告期内,公司销售模式为直销,通过与潜在客户商务谈判、招投标等方式获取客户订单。

经过多年的努力,公司已与国内半导体行业企业形成了较为稳定的合作关系。


公司的销售流程一般包括市场调查与推介、获取客户需求及公司内部讨论、产品报价、投标操作与管理(如适用)、销售洽谈、合同评审、销售订单(或Demo订单)签订与执行、产品安装调试、合同回款、客户验收及售后服务等步骤。公司的设备发运至客户指定地点后,需要在客户的生产线上进行安装调试。通常客户在完成相关测试后,对设备进行验收,公司在客户端验收完成后确认收入。

报告期内,公司主要经营模式未发生重大变化。


二、 核心技术与研发进展
1. 核心技术及其先进性以及报告期内的变化情况
公司自成立以来,始终专注于高端半导体设备的研发,形成了一系列具有自主知识产权的核心技术,并达到国际先进水平。公司核心技术广泛应用于主营业务产品中,解决了半导体制造中纳米级厚度薄膜均匀一致性、薄膜表面颗粒数量少、快速成膜、设备产能稳定高速等关键难题,在保证实现薄膜工艺性能的同时,提升客户产线的产能,减少客户产线的生产成本。公司核心技术及其先进性的具体表征如下:

序号核心技术名称技术特点技术水平
1先进薄膜工艺 设备设计技术先进薄膜工艺设备设计技术,通过对反应腔进行设计 和优化,以实现先进薄膜材料的性能要求。 ? 沉积含碳的前驱体沉积低 k 类材料:通过对射频功率 及液态源气化速率的精准控制,保障了所沉积薄膜的低介 电性能和薄膜硬度。 ? 沉积新型阻挡层(如ADCⅠ)材料:通过对沉积过程中 各反应源浓度的均匀性和浓度本身的精准控制,反应气体 的输运速率控制,配合射频功率的升降控制,使反应材料 达到恰当的比例,实现所沉积薄膜性能达到要求的低介电 性、密封性、均匀性。 ? 沉积新型硬掩膜(如ACHM):通过采用一种边缘隔离 环用于沉积站的晶圆中心并覆盖其边缘的方案,从而防止 晶体边缘出现沉积,既能保证晶圆定位的准确,又能避免 因晶圆的侧边与陶瓷环接触而产生颗粒及因薄膜边缘过厚 而产生颗粒。 ? 氧化硅/氮化硅(ONON)堆叠薄膜:通过薄膜沉积反应 腔设计,及其配套沉积工艺和腔体清洗工艺,解决ONON叠 层沉积过程中,由于连续多次沉积引起的反应物在腔体内 部表面附着力降低而导致的颗粒污染,并通过对反应腔内 表面温度的精确控制及反应环境化学成分控制,有效降低 颗粒污染的产生。国际先进


2反应模块架构 布局技术反应模块架构包含了双站型和多站型等布局的处理腔 室。该技术可以在保证均匀一致性的情况下提高产能,还 可以实现在一台设备上进行多种工艺的组合。 ? 双站型产品:模块式搭建,一个传片平台搭配最多三个 双站型反应腔,每次可处理 6 片晶圆。每个反应腔内有两 个独立的反应站,通过反应站之间设置环境匹配通道,以 实现两个相互独立的反应站共用气体输运控制和压力控 制,从而实现各反应站内薄膜的一致性。 ? 多站型产品:模块式搭建,一个传片平台搭配最多三个 六站型反应腔,每次可处理18片晶圆,反应站之间以活动 隔离组件隔开,可实现独立控制和相对隔离控制,进而实 现反应站之间的独立性和一致性。该技术可以提高生产效 率,解决特殊半导体制程中的产能需求。 ? 该技术可以同时搭载ALD和PECVD反应模块,有效提 高产能,又能保证工艺性能。国际先进
3半导体制造系 统高产能平台 技术半导体制造系统高产能平台包含大气传输系统 (EFEM)、真空过渡模块(LOADLOCK)、真空传输模块 (Transfer Module)。 ? 通过对真空过渡模块和真空传输腔的设计,可高效实 施线上任务,有效缩短生产时间,提高薄膜沉积设备的生 产能力并有效降低颗粒污染; ? 通过多边形传输模块的设计,实现每个传输模块同时 搭载多个反应腔室,如六边形传输模块,可以搭载最多五 个反应腔(10个反应站),提高薄膜沉积设备的产能。国际先进
4等离子体稳定 控制技术针对薄膜沉积反应特殊需求,通过对射频系统进行优 化设计和改进,将射频赋能等离子体过程控制在10毫秒等 级。射频快速响应能够使等离子体在最短时间内达到稳定 状态,实现以等离子体化学气相沉积原理成膜的薄膜厚度 和膜厚均匀性的精准控制。国际先进
5反应腔腔内关 键件设计技术反应腔腔内关键件设计技术是通过针对反应腔内可能 与晶圆接触的所有部件的单独设计和联合设计,使得反映 环境和工艺参数可以得到严格控制的技术。关键件包含喷 淋头,加热盘,腔内陶瓷件,抽气设置等,通过设计优化, 实现反应腔气流的均匀性、晶圆温度控制、反应环境的可 控性和晶圆传输可靠性,可以有效控制薄膜的性能、避免 颗粒产生。国际先进
6半导体沉积设 备气体输运控 制系统针对两站或多站型沉积工艺,采用特别设计的分流机 制进行喷淋头的送气,保证各站对应连接管路的一致性, 确保各站流量均衡,前驱体的浓度均衡,从而一定程度保 障了薄膜工艺表现。国际先进


7气体高速转换 系统设计技术通过对气体输送系统中的流量控制、高速阀门选型、管 路设计及各部件对应的电控机制的设计,达到气体高速精 准转换,保障了薄膜性能,缩短了成膜周期,提高了机台的 产能。国际先进
8反应腔温度控 制技术反应腔温度控制技术通过对反应腔体加热盘、气体管 路、喷淋板、工艺加热装置和泵气系统的加热模块进行设 计及温度控制,可以有效控制晶圆片间均匀性,提高设备 的稳定性、保障客户生产需求。国际先进
报告期内,公司核心技术及其先进性未发生重大变化。


国家科学技术奖项获奖情况
□适用 √不适用

国家级专精特新“小巨人”企业、制造业“单项冠军”认定情况
□适用 √不适用
2. 报告期内获得的研发成果
公司始终在高端半导体专用设备领域深耕,并专注于薄膜沉积设备的研发与产业化。报告期内,公司获批承担 1项国家重大专项。截至报告期末,公司已先后累计承担 8项国家重大专项/课题。

公司拥有多项自主知识产权和核心技术。截至报告期末,公司累计申请专利960项(含PCT)、获得专利298项;报告期内,公司新增申请专利108项(含PCT)、新增获得专利83项。

报告期内获得的知识产权列表


 本期新增 累计数量 
 申请数(个)获得数(个)申请数(个)获得数(个)
发明专利4931714155
实用新型专利5952214142
外观设计专利0021
软件著作权2161716
其他00300
合计11099977314
注1:上表“其他”指PCT申请数量;
注2:上表“累计数量”中“获得数”不包含已失效专利。

3. 研发投入情况表
单位:元

 本期数上年同期数变化幅度(%)
费用化研发投入210,085,534.71117,517,011.9578.77
资本化研发投入   
研发投入合计210,085,534.71117,517,011.9578.77
研发投入总额占营业收入20.9322.46减少1.53个百分点


比例(%)   
研发投入资本化的比重(%)   

研发投入总额较上年发生重大变化的原因
√适用 □不适用
公司重视核心技术的研发,不断开拓新产品,拓展工艺应用领域,始终保持高强度的研发投入,本期研发投入较上年同期增长78.77%,主要系研发人员薪酬及股份支付费用增加。


研发投入资本化的比重大幅变动的原因及其合理性说明
□适用 √不适用


4. 在研项目情况
√适用 □不适用
单位:万元

序号项目名称预计总投资 规模本期投入 金额累计投入金 额进展或阶 段性成果拟达到目标技术水 平具体应用前景
1PECVD系列产 品及工艺开 发与产业化116,604.638,635.1168,951.49已实现产 业化应 用,并持 续拓展工 艺应用研发PECVD系列薄膜设备,实现SiO2、SiN、 TEOS、SiON、SiOC、FSG、BPSG、PSG等通用 介质薄膜材料,以及Lok I、Lok II、ACHM、 ADC I、HTN、a-Si等先进介质薄膜材料工 艺,产品性能指标达到客户产线要求。国际同 类设备 水平集成电路逻辑 芯片、存储芯 片制造及先进 封装领域
2PE-ALD系列 产品及工艺 研发与产业 化51,035.303,119.4516,565.45已实现产 业化应 用,并持 续拓展工 艺应用研发PE-ALD系列薄膜设备,实现SiO2、SiN 等介质薄膜材料,产品性能指标达到客户产 线要求。国际同 类设备 水平集成电路逻辑 芯片、存储芯 片制造及先进 封装领域
3Thermal-ALD 系列产品及 工艺研发与 产业化26,760.752,944.309,554.26产业化验 证,并持 续拓展工 艺应用研发Thermal-ALD系列薄膜设备,实现Al2O3 等多种金属化合物薄膜材料,产品性能指标 达到客户产线要求。国际同 类设备 水平集成电路逻辑 芯片、存储芯 片制造领域
4深沟槽填充 薄膜工艺系 列产品研发 与产业化28,327.922,434.869,523.65已实现产 业化应 用,并持 续拓展工 艺应用研发深沟槽填充系列薄膜设备,实现浅槽隔 离、金属前介质层等沟槽填充的薄膜工艺, 产品性能指标达到客户产线要求。国际同 类设备 水平集成电路逻辑 芯片、存储芯 片制造领域
5HDPCVD系列 产品及工艺 开发与产业 化7,473.00953.804,188.59已实现产 业化应 用,并持 续拓展工 艺应用研发HDPCVD系列薄膜设备,产品性能指标达 到客户产线要求。国际同 类设备 水平集成电路逻辑 芯片、存储芯 片制造领域
(未完)
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